X熒光光度計（XRF）的主要特點
主要特點：（1）快速，測試一個樣品只需2min-3min；（2）無損，測試過程中無需損壞樣品，直接測試；（3）含量范圍廣；......閱讀全文
X熒光光度計（XRF）的主要特點
主要特點：（1）快速，測試一個樣品只需2min-3min；（2）無損，測試過程中無需損壞樣品，直接測試；（3）含量范圍廣；
X熒光光度計（XRF）
原理：受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。3.主要特點：（1）快速，測試一個樣品只需2min-3min；
X熒光光度計（XRF）的工作原理
受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
X射線熒光（XRF）：理解特征X射線
什么是XRF？ X射線熒光定義：由高能X射線或伽馬射線轟擊激發材料所發出次級（或熒光）X射線。這種現象廣泛應用于元素分析。 XRF如何工作？ 當高能光子（X射線或伽馬射線）被原子吸收，內層電子被激發出來，變成“光電子”，形成空穴，原子處于激發態。外層電子向內層躍遷，發射出能量等于兩級能
微－X－射線熒光－(μXRF)技術詳解
微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術，它允許檢測非常小的樣品區域。與傳統的 XRF 儀器一樣，微 X 射線熒光通過使用直接 X 射線激發來誘導來自樣品的特性 X 射線熒光發射，以用于元素分析。與傳統 XRF 不同（其典型空間分辨率的直徑范圍從幾百微米到幾毫米），μXRF 使用 X 射線
X射線熒光光譜儀(XRF)
原理：用一束X射線或低能光線照射樣品材料，致使樣品發射二次特征X射線，也叫X射線熒光。這些X射線熒光的能量或波長是特征的，樣品中元素的濃度直接決定射線的強度。從而根據特征能量線鑒別元素的種類，根據譜線強度來進行定量分析。XRF有波長散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)兩種，前者測量精密度好
X射線熒光光譜儀（XRF）
自1895年倫琴發現X射線以來，X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中，1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎；20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段；60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅
X熒光光譜儀XRF的概述
是用X-射線管發出的初級線束輻照樣品，激發各化學元素發出二次譜線。是用X射線直接照射樣品發射X熒光，分光晶體將熒光光束色散后，測定各種元素的特征X-射線波長和強度，從而測定各種元素的含量；而光譜儀是通過濾光片得到背景相對較低的X射線，照射樣品發射X熒光，X熒光借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分
X射線熒光（XRF）儀的結構組成介紹
一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。 然后，儀器
如何選擇X熒光光譜儀（XRF）
??應選擇歷史悠久，技術過硬，故障率低，日常運行成本低，使用年限長，性價比高，品牌過硬的儀器。Niton公司成立超過20年，其便攜式光譜儀在世界上處于ling先地位，在世界各地已安裝超過12000臺，可快捷測試元素周期表中從22號元素鈦(Ti)至83號元素鉍(Bi)中的23個標準合金成分元素，輔助氦
X射線熒光光譜分析（－XRF）
XRF：X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence) 的X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自
XRF收購Coltide的X射線熒光漂移監測業務
總部位于墨爾本的XRF公司將收購Coltide 的x射線熒光漂移監測業務。 Coltide是阿德萊德的一家X射線熒光漂移監測儀器制造商和供應商，X射線熒光漂移監測儀器由礦業公司和研究機構進行元素精確校準。Coltide由Keith Norrish博士創立，他是將波長色散X射線熒光光譜法用于礦物
X熒光光譜儀XRF的性能特點
專業的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。 超薄窗大面積的進口SDD探測器。 內置信噪比25倍。 抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析 針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。 任意多個可選擇的分析和識別模型 相互獨立的基體效應校正模型 多變量非線性回歸程
X熒光光譜儀XRF的優勢介紹
1、采用獨特的激發X光源，樣品激發結構和探測系統，大大提高儀器元素的檢測靈敏度（降低檢出限）； 2、具有現代化的外觀，結構和色彩，上蓋電動控制開關，更人性化； 3、準直器，濾光片自動切換，可適應不同的樣品測試要求； 4、大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測量更靈活方便； 5、配備功能齊全的
微－X－射線熒光－(μXRF)的基本信息介紹
微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術，它允許檢測非常小的樣品區域。與傳統的 XRF 儀器一樣，微 X 射線熒光通過使用直接 X 射線激發來誘導來自樣品的特性 X 射線熒光發射，以用于元素分析。與傳統 XRF 不同（其典型空間分辨率的直徑范圍從幾百微米到幾毫米），μXRF 使用 X
X射線熒光光譜儀（XRF）的應用
可以進行固體、粉末、薄膜、液體樣品及不規則樣品的無標樣元素的定性定量分析。主要用于金屬、無機非金屬等材料中化學元素的成分分析，X射線熒光光譜法XRF測試的元素范圍包含有效的元素測量范圍為1號元素 （Na）到92號元素（U）
簡述X射線熒光光譜儀（XRF）的應用
可以進行固體、粉末、薄膜、液體樣品及不規則樣品的無標樣元素的定性定量分析。主要用于金屬、無機非金屬等材料中化學元素的成分分析，X射線熒光光譜法XRF測試的元素范圍包含有效的元素測量范圍為1號元素 （Na）到92號元素（U）
能量色散－X－射線熒光－(ED－XRF)的相關介紹
能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 是用于元素分析應用的兩種通用型 X 射線熒光技術之一。在 EDXRF 光譜儀中，樣品中的所有元素都被同時激發，而能量色散檢測儀與多通道分析儀相結合，用于同時收集從樣品發射的熒光輻射，然后區分來自各個樣品元素的特性輻射的不同能量。EDXRF 系統的分辨率取決
X射線熒光光譜法XRF樣品的要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干； 2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm； 3.檢測單元表面盡量平整，且尺寸為4-4.5cm。
X射線熒光光譜儀（XRF）的樣品要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干； 2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm； 3.檢測單元表面盡量平整，且長寬不超過45mm 4.粉末樣品可能會使用硼酸壓片，如有特殊要求，請提前說明
X射線熒光光譜儀（XRF）的樣品要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干；2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm；3.檢測單元表面盡量平整，且長寬不超過45mm4.粉末樣品可能會使用硼酸壓片，如有特殊要求，需提前說明。
X射線熒光光譜儀(XRF)－簡介
X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X-熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)，是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的
X射線熒光光譜儀（XRF）基本結構
現代X射線熒光光譜分析儀由以下幾部分組成;X射線發生器(X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置)、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器)、記數記錄系統（脈沖輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器)。
X射線熒光光譜儀（XRF）基本結構
現代X射線熒光光譜分析儀由以下幾部分組成；X射線發生器(X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置)、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器)、記數記錄系統（脈沖輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器)。
XRF(X射線熒光光譜儀)選擇寶典
能測RoHS指令的儀器很多，而且這些儀器無論是國產的還是進口的，都是屬貴重儀器。如何選擇不光是費用問題，更主要的使用問題。 ?????對六種有害物質總量的定量檢測： 一、?按日本商會歐盟分部的“依照RoHS指令的檢測方法”。 ???該方法建議對來料先便攜式（手持式）ROHS檢測儀檢測，能通過的就算合
XRFX射線熒光光譜儀的優點介紹
X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。 探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。 然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種
X射線熒光光譜儀（XRF）的基本分類
作為一種比較分析技術，在一定的條件下，利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析的儀器。 按激發、色散和探測方法的不同，分為： X射線光譜法（波長色散） X射線能譜法（能量色散）
X熒光光譜儀（XRF）的基本原理
?X熒光光譜儀是根據X射線熒光光譜的分析方法配置的多通道X射線熒光光譜儀，它能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量。 X射線熒光（XRF）能夠測定周期表中多達83個元素所組成的各種形式和性質的導體或非導體固體材料，其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質物料等。凡是能和x射
X熒光硅鋁分析儀的主要特點
主要特點?1、微機化集成為一體，結構緊湊，外形美觀。?2、大屏幕液晶顯示，全中文菜單提示操作，使用為方便。?3、分析時間短，1分鐘即能測出SiO2%、Al2O3%。?4、儀器檢測時不破壞樣品，樣品可重復使用。?5、不用任何化學試劑、無三廢排放，不含放射源、低耗電，符合環保節能要求。 ?6、數據存
以色列X熒光光譜儀XRFCaliburSDD
儀器介紹： XRF-Calibur?SDD非常適合于傳統的實驗室操作，它有完全整合的電腦控制系統。重型設計及制造使得該儀器成為移動實驗室的理想選擇。 主要特點： 1.?真正實現了快速，準確的檢測，直接顯示元素的ppm含量或者百分比。 2.?礦石、巖石、礦渣、碎片、土壤、泥土、泥漿等固體和液體物質。