X熒光光譜儀XRF的概述

　　是用X-射線管發出的初級線束輻照樣品，激發各化學元素發出二次譜線。是用X射線直接照射樣品發射X熒光，分光晶體將熒光光束色散后，測定各種元素的特征X-射線波長和強度，從而測定各種元素的含量；而光譜儀是通過濾光片得到背景相對較低的X射線，照射樣品發射X熒光，X熒光借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將未色散的X-射線按光子能量進行色散，根據各元素特征能量的強度高低來測定各元素的量；根據各元素特征能量的強度高低來測定各元素的量，這就大大提高了儀器的信噪比，提高了能譜儀分析輕元素的能力。