XRF(X射線熒光光譜儀)選擇寶典
能測RoHS指令的儀器很多，而且這些儀器無論是國產的還是進口的，都是屬貴重儀器。如何選擇不光是費用問題，更主要的使用問題。 對六種有害物質總量的定量檢測： 一、 按日本商會歐盟分部的“依照RoHS指令的檢測方法”。 該方法建議對來料先便攜式（手持式）ROHS檢測儀檢測，能通過的就算合格，遇到不合格的就算不合格品。對灰色區域的，需要最終判斷，要用臺式儀器。 對于不同材料，使用的臺式儀器各不相同. 二、 臺式X射線熒光光譜儀的選擇。 早期的臺式熒光光譜儀使用液氮（LN）致冷探測器Si（Li）LN，每次使用要消耗液氮，也不方便。電致冷硅漂探測器SiPIN出現后，就成為側RoHS光譜儀探測器的主流。液氮致冷靈敏度較容易達到要求，成......閱讀全文
X射線熒光光譜儀(XRF)
原理：用一束X射線或低能光線照射樣品材料，致使樣品發射二次特征X射線，也叫X射線熒光。這些X射線熒光的能量或波長是特征的，樣品中元素的濃度直接決定射線的強度。從而根據特征能量線鑒別元素的種類，根據譜線強度來進行定量分析。XRF有波長散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)兩種，前者測量精密度好
XRF熒光光譜的技術指標
重復性0.1% 能量分辨率小于135eV@5.9keV/1,000cps 分析含量范圍1ppm-100% 元素分析范圍C（6) ~ Am(95)。
X射線熒光光譜儀（XRF）
自1895年倫琴發現X射線以來，X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中，1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎；20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段；60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅
X熒光光譜儀XRF的概述
是用X-射線管發出的初級線束輻照樣品，激發各化學元素發出二次譜線。是用X射線直接照射樣品發射X熒光，分光晶體將熒光光束色散后，測定各種元素的特征X-射線波長和強度，從而測定各種元素的含量；而光譜儀是通過濾光片得到背景相對較低的X射線，照射樣品發射X熒光，X熒光借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分
X射線熒光光譜分析（－XRF）
XRF：X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence) 的X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自
如何選擇X熒光光譜儀（XRF）
??應選擇歷史悠久，技術過硬，故障率低，日常運行成本低，使用年限長，性價比高，品牌過硬的儀器。Niton公司成立超過20年，其便攜式光譜儀在世界上處于ling先地位，在世界各地已安裝超過12000臺，可快捷測試元素周期表中從22號元素鈦(Ti)至83號元素鉍(Bi)中的23個標準合金成分元素，輔助氦
X熒光光譜儀XRF的性能特點
專業的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。 超薄窗大面積的進口SDD探測器。 內置信噪比25倍。 抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析 針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。 任意多個可選擇的分析和識別模型 相互獨立的基體效應校正模型 多變量非線性回歸程
X熒光光譜儀XRF的優勢介紹
1、采用獨特的激發X光源，樣品激發結構和探測系統，大大提高儀器元素的檢測靈敏度（降低檢出限）； 2、具有現代化的外觀，結構和色彩，上蓋電動控制開關，更人性化； 3、準直器，濾光片自動切換，可適應不同的樣品測試要求； 4、大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測量更靈活方便； 5、配備功能齊全的
X射線熒光光譜儀(XRF)－簡介
X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X-熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)，是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的
X射線熒光光譜儀（XRF）基本結構
現代X射線熒光光譜分析儀由以下幾部分組成;X射線發生器(X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置)、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器)、記數記錄系統（脈沖輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器)。
X射線熒光光譜儀（XRF）的應用
可以進行固體、粉末、薄膜、液體樣品及不規則樣品的無標樣元素的定性定量分析。主要用于金屬、無機非金屬等材料中化學元素的成分分析，X射線熒光光譜法XRF測試的元素范圍包含有效的元素測量范圍為1號元素 （Na）到92號元素（U）
X射線熒光光譜儀（XRF）基本結構
現代X射線熒光光譜分析儀由以下幾部分組成；X射線發生器(X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置)、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器)、記數記錄系統（脈沖輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器)。
XRF熒光光譜儀樣品的制備方法
?無論采用哪種方法，都只能用均質樣品獲得物理和化學分析方法（尤其是X射線熒光（XRF）分析）中的高精度。滿足該要求的一種簡單方法是將樣品溶解在溶劑中，通用且快速的技術是將其與堿性硼酸鹽融合。在XRF分析中，硼酸鹽熔融特別有利，因為獲得的結果是固體玻璃。在其他物理化學方法（AA和ICP分析）中，硼酸鹽
XRF(X射線熒光光譜儀)選擇寶典
能測RoHS指令的儀器很多，而且這些儀器無論是國產的還是進口的，都是屬貴重儀器。如何選擇不光是費用問題，更主要的使用問題。 ?????對六種有害物質總量的定量檢測： 一、?按日本商會歐盟分部的“依照RoHS指令的檢測方法”。 ???該方法建議對來料先便攜式（手持式）ROHS檢測儀檢測，能通過的就算合
以色列X熒光光譜儀XRFCaliburSDD
儀器介紹： XRF-Calibur?SDD非常適合于傳統的實驗室操作，它有完全整合的電腦控制系統。重型設計及制造使得該儀器成為移動實驗室的理想選擇。 主要特點： 1.?真正實現了快速，準確的檢測，直接顯示元素的ppm含量或者百分比。 2.?礦石、巖石、礦渣、碎片、土壤、泥土、泥漿等固體和液體物質。
X射線熒光光譜法XRF樣品的要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干； 2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm； 3.檢測單元表面盡量平整，且尺寸為4-4.5cm。
XRF熒光光譜儀的優劣勢說明
XRF熒光光譜儀根據其分光原理不同分成波長色散型X熒光光譜儀（波譜儀，WDXRF）和能量色散型X熒光光譜儀（能譜儀，EDXRF）。我們通常所說的X熒光光譜儀就是指波長色散的儀器。 1、XRF熒光光譜儀的優勢 （1）制樣簡單。通常情況下是物理制樣。試樣經過簡單的破碎、研磨成粉末壓片或熔
簡述X射線熒光光譜儀（XRF）的應用
可以進行固體、粉末、薄膜、液體樣品及不規則樣品的無標樣元素的定性定量分析。主要用于金屬、無機非金屬等材料中化學元素的成分分析，X射線熒光光譜法XRF測試的元素范圍包含有效的元素測量范圍為1號元素 （Na）到92號元素（U）
X射線熒光光譜儀（XRF）的樣品要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干； 2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm； 3.檢測單元表面盡量平整，且長寬不超過45mm 4.粉末樣品可能會使用硼酸壓片，如有特殊要求，請提前說明
X射線熒光光譜儀（XRF）的樣品要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干；2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm；3.檢測單元表面盡量平整，且長寬不超過45mm4.粉末樣品可能會使用硼酸壓片，如有特殊要求，需提前說明。
XRFX射線熒光光譜儀的優點介紹
X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。 探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。 然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種
便攜式XRF熒光光譜儀的產品優勢
?便攜，堅固，緊湊的設計，輕松實現現場高精度樣品無損檢測?友好的軟件界面和一鍵式啟動測試?常規分析培訓只需幾分鐘?大型8英寸觸摸屏上顯示的直觀界面?可選配大容量電池，無需外部供電情況下可實現長時間工作
便攜式XRF熒光光譜儀的應用介紹
·土壤重金屬普查，篩查·可對含鉛涂料進行檢測·可對過濾介質進行金屬檢測·可用于檢測經過鉻化處理的木材、其他建筑材料、以及它們的碎層·環境重金屬污染分析·礦產礦石分析：銅礦，鉻礦，鉬礦，鎢礦，鉭礦，鐵礦，鉛鋅礦，稀土，錳礦，鎳礦，貴金屬礦產等·食品，化妝品和藥品重金屬測試·催化劑中貴金屬元素鉑鈀銠分析
X射線熒光光譜儀（XRF）的基本分類
作為一種比較分析技術，在一定的條件下，利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析的儀器。 按激發、色散和探測方法的不同，分為： X射線光譜法（波長色散） X射線能譜法（能量色散）
X射線熒光光譜儀（XRF）基本原理
X射線熒光光譜儀簡稱：XRF，適用于簡單的元素識別和定量以及更加復雜的分析，X射線熒光光譜分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光，它是利用一定波長的X射線照射材料，元素處于激發狀態，從而激發出光子，形成一種熒光射線，由于不同元素的激發態的能量大小不一樣
X熒光光譜儀（XRF）的基本原理
?X熒光光譜儀是根據X射線熒光光譜的分析方法配置的多通道X射線熒光光譜儀，它能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量。 X射線熒光（XRF）能夠測定周期表中多達83個元素所組成的各種形式和性質的導體或非導體固體材料，其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質物料等。凡是能和x射
X射線熒光光譜儀（XRF）基本原理
X射線熒光光譜儀簡稱：XRF，適用于簡單的元素識別和定量以及更加復雜的分析，X射線熒光光譜分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。 熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光，它是利用一定波長的X射線照射材料，元素處于激發狀態，從而激發出光子，形成一種熒光射線，由于不同元素的激發態的能量大
X熒光光譜儀器XRF篩選方法若干問題
1．取樣 1.1對于非破壞方式：操作者應該將樣品放在儀器合適的位置上，即要保證待測試部分位置準確，又要保證其它非測試部分不會被檢測。操作者必須保證待測試部分和儀器之間距離和幾何位置的可重現性。操作者必須考慮待測試部分盡可能具有規則外形，如面積、表面粗糙度、已知的物理結構等。如果需要從大的物體中獲
XRF熒光光譜儀基體效應校正方式
在XRF熒光光譜儀分析中, 基體效應往往是引起分析誤差的主要來源之一。基體效應是元素間的吸收一增強效應和物理一化學效應, 通常, 基體效應是指被測樣品中元素間的吸收-增強效應。為了保證分析結果的準確性, 必須對基體效應進行校正。目前對基體效應的校正已發展為兩大分支, 其一是通過實驗的手段, 稱之為實
XRF（X射線熒光光譜分析）各品牌介紹
1.美國Xenemetrix（能量色散） 美國Xenemetrix在過去30年內一直是能量色散X射線熒光光譜分析方面的領先創新者，而X-Calibur更是Xenemetrix多年經驗和專業知識的頂峰設計，該儀器占地面積少、性能優越。強大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射線熒光