關于X射線熒光光譜儀對環境的要求
我們必須注意的是 X 射線熒光光譜儀對周圍環境的要求較高，實驗室內要保證恒溫、恒濕（22 度左右、濕度60%以下），特別是在南方潮濕的天氣環境下，更要特別注意。儀器實驗室必須安裝空調設備，儀器的使用環境中，不能有酸霧存在，也就是說，XRF 儀器不要和化學實驗室在同一個房間內。因為 X 光管和探測器都有用金屬鈹做的窗口，金屬鈹很容易被酸腐蝕。其次是實驗室要環境清潔，保證電源穩定，避免震動。為了儀器正常運轉，儀器還必須有獨立地線。......閱讀全文
關于X－射線熒光光譜儀對環境的要求
我們必須注意的是 X 射線熒光光譜儀對周圍環境的要求較高，實驗室內要保證恒溫、恒濕（22 度左右、濕度60%以下），特別是在南方潮濕的天氣環境下，更要特別注意。儀器實驗室必須安裝空調設備，儀器的使用環境中，不能有酸霧存在，也就是說，XRF 儀器不要和化學實驗室在同一個房間內。因為 X 光管和探測
X射線熒光光譜儀制樣要求
X射線熒光光譜儀制樣要求：? 樣品的尺寸(直徑x高)50x 40mm，重量400g。? 1、定量分析? 定量分析是對樣品中元素進行準確定量測定。定量分析需要一組標準樣品做參考。常規定量分析一般需要5個以上的標準樣品才能建立較可靠的工作曲線。? 常規X射線熒光光譜定量分析對標準樣品的基本要求：
X射線熒光光譜儀測試時對樣品是否有要求
材質必須均勻。你的待測元素不均勻的話，多的地方和少的地方差別會較大。因為XRF光譜儀入射光線一般較窄，直徑1-5微米，也就是說照射到樣品的區域會很小，所以不均勻樣品檢測會不準確，當然主要也是看不均勻程度。你的交錯規律排列指的什么？如果是一層高分子，一層無機物，在一層高分子一層無機物，并且每層的厚度一
X射線熒光光譜儀測試時對樣品是否有要求
材質必須均勻。你的待測元素不均勻的話，多的地方和少的地方差別會較大。因為XRF光譜儀入射光線一般較窄，直徑1-5微米，也就是說照射到樣品的區域會很小，所以不均勻樣品檢測會不準確，當然主要也是看不均勻程度。你的交錯規律排列指的什么？如果是一層高分子，一層無機物，在一層高分子一層無機物，并且每層的厚度一
X射線熒光光譜儀測試時對樣品是否有要求
材質必須均勻。你的待測元素不均勻的話，多的地方和少的地方差別會較大。因為XRF光譜儀入射光線一般較窄，直徑1-5微米，也就是說照射到樣品的區域會很小，所以不均勻樣品檢測會不準確，當然主要也是看不均勻程度。你的交錯規律排列指的什么?如果是一層高分子，一層無機物，在一層高分子一層無機物，并且每層的厚度一
X射線熒光光譜儀（XRF）的樣品要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干； 2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm； 3.檢測單元表面盡量平整，且長寬不超過45mm 4.粉末樣品可能會使用硼酸壓片，如有特殊要求，請提前說明
X射線熒光光譜儀（XRF）的樣品要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干；2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm；3.檢測單元表面盡量平整，且長寬不超過45mm4.粉末樣品可能會使用硼酸壓片，如有特殊要求，需提前說明。
波長色散X射線熒光光譜儀的樣品要求
?波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)，從而進行物質成分分析的儀器。?? X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。?? 特點及應用：?? 波長色散X射線熒光光譜儀優點多，不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
概述X射線熒光光譜儀X射線的產生
根據經典電磁理論，運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的：利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶，電子被金屬靶所減速，便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線，也包括了特征譜線。 1、連續譜線 連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X－射線熒光光譜儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
x熒光光譜儀發出的x射線對人體有危害嗎
x射線熒光分析儀目前主要有兩種,一種是能量色散型,一種是波長色散型。第一:能量色散型的x射線有低功率x射線管或者放射源產生,現在一般不會有什么問題的,特別是x光管產生x射線的,不會有問題,但是用放射源的要注意防護第二:波長色散x熒光光譜儀,特別是現在幾千瓦的儀器,在安裝、維修中要注意點,平時使用中不
X射線熒光光譜儀X射線光管結構
常規X射線光管主要采用端窗和側窗兩種設計。普通X射線光管一般由真空玻璃管、陰極燈絲、陽極靶、鈹窗以及聚焦柵極組成，并利用高壓電纜與高壓發生器相接，同時高功率光管還需要配有冷卻系統。側窗和端窗X射線光管結構如圖6和圖7所示。 當電流流經X射線光管燈絲線圈時，引起陰極燈絲發熱發光，并向四周發射電子
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀特點對比
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
X射線熒光分析對試樣樣品的具體要求
X射線熒光分析法的特點與適應范圍是（1）適應范圍廣除了H，He，Li，Be外，可對周期表中從5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。（2）操作快速方便在短時間內可同時完成多種元素的分析。（3）不受試樣形狀和大小的限制，不破壞試樣，分析的試樣應該均勻。（4）靈敏度偏低一般只能分析含量大于0.0
X射線熒光光譜儀X射線防護系統的故障分析
為了防止X射線泄漏，高壓發生器只有在射線防護系統正常的情況下才能啟動。射線防護系統正常與否，主要檢查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射線熒光光譜儀是一個封閉系統，面板是最外層的射線防護裝置，如果有一塊面板不到位，儀器就有射線泄漏的可能。因此，每塊面板上都有位置接觸傳感器，面板沒有完全合
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
x射線熒光和x射線衍射的區別在于前者是對材料進行成份分析的儀器，而后者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線熒光光譜儀中的X射線原理科普
X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。x射線具有很高的穿透本領，能透過許多對可見光不透明的物質，如墨紙、木料等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發生可見的熒光，使照相底片感光以及空氣電離等效應。X射線初用于醫學成像診斷和X射線結晶學。X射線也是游離輻射等這一類對人體有危害的
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
x射線熒光和x射線衍射的區別在于前者是對材料進行成份分析的儀器，而后者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。
X射線熒光光譜儀優點
X射線熒光光譜儀優點：1)可在一臺儀器上可實現掃描式X射線波長色散分析、X射線能量色散分析、X-射線聚焦微小區域分析、游離氧化鈣X射線衍射分析。2)波長色散通道（波譜核）和能量色散通道（能譜核）可同時分別得到Be-?Am?和Na-Am?所有元素的光譜數據和定量分析結果。3)軟件可以得到上述各種分析技
x射線熒光光譜儀簡介
x射線熒光光譜儀提供了一種最簡單，最準確，最經濟的分析方法，可用于確定多種類型材料的化學成分。它是無損且可靠的，不需要或只需很少的樣品制備，適用于固體，液體和粉末狀樣品。它可以用于從鈉到鈾的多種元素，并提供亞ppm級以下的檢測限；它也可以輕松，同時地測量高達100％的濃度。