手持式X熒光光譜儀簡介
手持式X熒光光譜儀是是為野外、現場X熒光分析應用專門開發的儀器，可應用于各類地質礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析及考古研究，有長時間工作、輕巧方便等優點。 手持式能量色散分析儀，是為野外、現場X熒光分析應用專門開發的儀器類型。具有體積小、重量輕通人可手持測量的特點。它包括有害元素分析儀，合金牌號分析儀、土壤分析儀、貴金屬分析儀和礦石分析儀等一系列專業型號，其中手持式能量色散礦石分析儀已廣泛應用于各類地質礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析及考古研究中。檢測樣品包括從硫至鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿等，形態為固體、液體、粉末等。 X熒光光譜儀是真正意義上的現場測試利器。流線型的外形，帶給您全新的視覺沖擊；高貴大方的色彩，盡顯尊貴與穩重的獨特魅力；精巧的內核，融匯科技的濃縮之美；嚴謹的保護裝置，構造安全可靠的防火墻；小巧輕便，將人性化理念落實入微。......閱讀全文
手持式X熒光光譜儀簡介
手持式X熒光光譜儀是是為野外、現場X熒光分析應用專門開發的儀器，可應用于各類地質礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析及考古研究，有長時間工作、輕巧方便等優點。 手持式能量色散分析儀，是為野外、現場X熒光分析應用專門開發的儀器類型。具有體積小、重量輕通人可手持測量的特點。它包括有害元素分析儀，合金
手持式X熒光光譜儀的特點
1.采用小功率端窗一體化微型光管，功耗小、激發效率高，結合使用大面積鈹窗電致冷Si-PIN探測器，使該手持式儀器具有與臺式機相近的地質礦樣測試性能。 2.體積小、便攜，方便野外工作。隨時隨地，隨心所欲的現場分析和原位分析。 3.采用高分辨率（640*480）PDA作主機，結合無線藍牙通訊的微
x射線熒光光譜儀簡介
x射線熒光光譜儀提供了一種最簡單，最準確，最經濟的分析方法，可用于確定多種類型材料的化學成分。它是無損且可靠的，不需要或只需很少的樣品制備，適用于固體，液體和粉末狀樣品。它可以用于從鈉到鈾的多種元素，并提供亞ppm級以下的檢測限；它也可以輕松，同時地測量高達100％的濃度。
X射線熒光光譜儀簡介
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水
如何正確選購手持式X射線熒光光譜儀
（1）氣氛? ?X射線熒光光譜儀能夠分析元素周期表中的大部分元素，具體而言，從鈉元素（原子序數Z=11）到鈾元素（原子序數Z=92）都可以利用這種技術進行檢測分析。但是對于原子序數較低的元素（鈦元素Ti，Z=22以下），空氣會對檢測結果產生較大影響；由低原子序數元素產生的熒光值通常更低，并且樣品基體
如何正確選購手持式X射線熒光光譜儀？
X射線熒光光譜是一種常用的光譜技術，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。下面我們通過主要組件看看那選購時需要注意什么。（1）氣氛X射線熒光光譜儀能夠分析元素周期表中的大部分元素，具體而言，從鈉元素（原子序數Z=11）到鈾元素（原子序數Z=92）都可以利用這種技術進行檢測分
X射線熒光光譜儀的簡介
X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特
X熒光光譜儀的應用簡介
X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，可以 測定元素含量。 近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得最多也最廣泛。 大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等
X熒光光譜儀的原理簡介
X熒光光譜儀主要由激發源（X射線管）和探測系統構成。其原理就是：X射線管通過產生入射X射線（一次X射線），來激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量
X射線熒光發射光譜儀的簡介
中文名稱X射線熒光發射光譜儀英文名稱X-ray fluorescent emission spectrometer定 義用于測量熒光X射線的X射線光譜儀。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
波長色散X射線熒光光譜儀簡介
波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。 優點： 不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上的所有化學元素，分析精度高,樣品制備簡單。
波長色散X射線熒光光譜儀簡介
波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上的所有化學元素，分析精度高，樣品制備簡單。
X射線熒光光譜儀原理的簡介
X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。 X射線是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能量范圍在0.1~100 keV的光子。X射線與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。 XRF工作
X射線熒光光譜儀(XRF)－簡介
X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X-熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)，是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的
X射線熒光光譜儀分光晶體簡介
分光晶體是光譜儀的重要元件，應用了X射線的衍射特性，將樣品發射的各元素的特征X射線熒光，按波長分開以便測量每條譜線。不同的晶體和同一晶體的不同晶面具有不同的色散率和分辨率。 由上式可以看出，晶體角色散率和所用晶體的晶面間距2d、衍射角θ及衍射級有關，即2d間距越小，角色散率越大；衍射角越大，角
手持X射線熒光光譜儀的用途簡介
針對巖石粉末、巖心、野外露頭塊樣等樣品，可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有合金。 (標準型)合金分析儀器Innov-X Delta DPO2000的分析模式與元素種類 元素分析范圍：從12號元素Mg鎂到94號元素PU范圍內的31種基本元素，在以上范圍內，可以根據客戶需要更換其
波長色散型X射線熒光光譜儀簡介
波長色散型X射線熒光光譜儀是一種用于化學、食品科學技術領域的分析儀器，于2008年12月23日啟用。 1、技術指標 最大功率3.6KV；0～60KV間，1KV連續可調；高壓發生器輸出穩定度±0.0001％；12位自動進樣器；下照式，六塊晶體。 2、主要功能 能對樣品中O～U之間的元素進行
X射線熒光光譜儀探測器簡介
X射線熒光光譜儀常用的探測器有流氣正比計數器和閃爍計數器，流氣正比計數器用于輕元素檢測，閃爍計數器用于重元素檢測。 流氣正比計數器由金屬圓筒（陰極）、金屬絲（陽極）、窗口及探測氣體（惰性氣體）構成。陽極都制成均勻光滑的細絲線，一般由鎢、鉬、鉑、金等穩定的金屬絲制成。 流氣正比計數器中一般選用
波長色散式X射線熒光光譜儀的簡介
布拉格角范圍：13到98度28波 分析晶體：氟化鋰200，可選其他晶體 元素范圍：Kα 22-48（鈦到銀） 元素范圍：Lα 56-92（鋇到鈾） 準直器: 20千分之一發散 （探源） 檢測器：10千分之一接收 X-射線探源：X-射線管、鎢電極、鈹窗 X-射線管電壓：30KV連續電壓 X-射線管
X射線熒光光譜儀初級濾光片簡介
當需要分析痕量元素時，X射線光管產生的連續譜被輕基體強烈散射，在痕量元素的譜峰附近產生高背景，嚴重干擾測定。解決方法之一是在X射線光管和樣品之間的光路中插入一塊金屬濾光片，利用濾光片的吸收特性消除或降低X射線光管發射的原級X射線譜，尤其是消除靶材特征X射線譜和雜質線對待測元素的干擾，提高分析靈敏
簡述帶微區分析功能的手持式X射線熒光光譜儀
帶微區分析功能的手持式X射線熒光光譜儀具有價格相對便宜、穩定性好，分析速度快、分辨率高等優點，測區面積可根據需要鑒定礦物的大小進行調整，實現原位分析。可以應用該技術測定薄膜里的元素分布情況以及鑒定鉛鋅礦石和鎢礦石。通過研究待鑒定礦物的測量條件（分析線、能量窗口），測量方式（濾光片樣品自旋）和干擾校
手持式X熒光光譜儀輻射大嗎？對人體有傷害嗎？
手持式X熒光光譜儀是通過X內部高壓發生器產生X射線激發被測物體表面電子，電子在躍遷時發生能量釋放從而獲得各種元素的特征譜線。盡管X射線的劑量非常小，但出于對人體健康的考慮，仍然需要在操作和保管時加以注意。·孕婦使用時應該注意：錯誤操作與使用會導致輻射暴露。·操作人員對設備安全要負責。使用時，設備應該
手持式光譜儀的簡介
手持式光譜儀是一種基于XRF(XRayFluorescence,X射線熒光)光譜分析技術的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成，由于其便攜具有高效、便攜、準確等特點，使其在合金、礦石、環境、消費品等領域有著重要的應用。 手持式光譜儀要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強度準確
X熒光光譜儀特點
?X熒光光譜儀特點：? 1、無損檢測，可對電子電氣設備，玩具指令中的有害物質進行定性定量分析。? 2、測量時間短，客戶可選擇測試時間：60-300秒。? 3、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關設計，更好地保障操作員的人身安全。流水線型外觀，美觀大方。? 4、配備X Y軸可移動平臺，方便樣品點選
x熒光光譜儀原理
熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以各自
X熒光光譜儀原理
當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12～10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程 稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷.當較外層
X－射線熒光光譜儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
X熒光光譜儀原理
X熒光光譜儀原理當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12～10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷.當較
X射線熒光光譜儀定量分析方法簡介
X射線熒光光譜法是一種相對分析方法，光譜儀只提供X射線熒光的強度，要找到熒光強度與樣品濃度的關系，需要一套高質量的標準樣品，根據元素的濃度和已測的該元素的特征譜線的強度按一定關系進行擬合繪制工作曲線，以該工作曲線為基礎測試同類型樣品元素的組成和含量。
手持式拉曼光譜儀簡介
它是一款堅固耐用的手持式拉曼光譜儀，用于快速、準確的物料鑒定。具備同類產品無法比擬的操作簡單以及小巧輕便的特性。QC經理可以快速、準確的得到物料鑒定結果——通常需要的時間不到30秒。同時這種高效的解決方案，使用戶能夠快速開發方法，并使原輔料更快的通過驗證環節放行至生產環節。除此之外，設計符合當前