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  • 發布時間:2022-09-23 21:22 原文鏈接: X射線熒光光譜儀原理的簡介

      X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下,被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(X-熒光)。

      X射線是一種波長較短的電磁輻射,通常是指能量范圍在0.1~100 keV的光子。X射線與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。

      XRF工作原理是X射線光管發出的初級X射線照射樣品,樣品中原子的內層電子被激發,當外層電子躍遷時產生特征X射線,通過分析樣品中不同元素產生的特征熒光X射線波長(或能量)和強度,可以獲得樣品中的元素組成與含量信息,達到定性定量分析的目的。

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