怎樣分析TEM衍射斑點？
下圖為選區電子衍射原理圖：......閱讀全文
TEM分析中電子衍射花樣的標定原理：電子衍射的成像原理
電子衍射譜的成像原理在用厄瓦爾德球討論X射線或者電子衍射的成像幾何原理時，我們其實是把樣品當成了一個幾何點，但實際的樣品總是有大小的，因此從樣品中出來的光線嚴格地講不能當成是一支光線。之所以我們能夠用厄瓦爾德來討論問題，完全是由于反射球足夠大，存在一種近似關系。如果要嚴格地理解電子衍射的形成原理，就
TEM分析中電子衍射花樣的標定原理:－孿晶電子衍射花樣
孿晶電子衍射花樣所謂孿晶，通常指按一定取向關系并排生長在一起的同一物質的兩個晶粒。從晶體學上講，可以把孿晶晶體的一部分看成另一部分以某一低指數晶面為對稱面的鏡像；或以某一低指數晶向為旋轉軸旋轉一定的角度。孿晶的分類：1、按晶體學特點：反映孿晶和旋轉孿晶；2、按形成方式：生長孿晶和形變孿晶；3、按孿晶
手把手教學，如何標定TEM電子衍射圖譜
絕大部分的材料人會在一些文獻中看到一張張標記好的電子衍射圖譜，如下圖1。在發表論文時測得的電子衍射譜，由于標定知識的缺乏，看到一排排點陣，無法進行相關標定。所以作為一名材料研究生，掌握電子衍射花樣的標定知識是非常重要的。那么這樣的圖譜是如何標定的呢？原理又是什么呢？在此，且聽小編來介紹相關理論和標定
如何表征石墨烯層數？
表征石墨烯的手段主要有透射電子顯微鏡（TEM）、Ｘ射線衍射（XRD）、紫外光譜（UV）、原子力顯微鏡（AFM）、拉曼光譜（RAMAN）、掃描隧道顯微鏡（STM）及光學顯微鏡等。其中，XRD和UV均可對石墨烯的結構進行表征，主要用來監控石墨烯的合成過程；而表征石墨烯的層數可以采取的手段有TEM、RAM
TEM分析中電子衍射花樣的標定原理:－超點陣花樣
超點陣花樣當晶體是由兩種或者兩種以上的原子或者離子構成時，對于晶體中的任何一種原子或者離子，如果它能夠隨機地占據點陣中的任何一個陣點，則我們稱該晶體是無序的；如果晶體中不同的原子或者離子只能占據特定的陣點，則該晶體是有序的。晶體從無序相向有序相轉變以后，在產生有序的方向會出現平移周期的加倍，從而引起
TEM分析中電子衍射花樣的標定原理:－菊池花樣
在稍厚的薄膜試樣中觀察電子衍射時，經常會發現在衍射譜的背景襯度上分布著黑白成對的線條。這時，如果旋轉試樣，衍射斑的亮度雖然會有所變化，但它們的位置基本上不會改變。但是，上述成對的線條卻會隨樣品的轉動迅速移動。這樣的衍射線條稱為菊池線，帶有菊池線的衍射花樣稱之為菊池衍射譜。菊池花樣在晶體材料分析方面，
TEM分析中電子衍射花樣的標定原理:－高階勞埃斑
高階勞埃斑以入射束與反射球的交點作為原點，構造出與晶體對應的倒易點陣。則對于正空間中的任一晶帶軸，與之垂直而且過倒易空間的原點的倒易面，稱之為該晶帶的零層倒易面，該倒易面上的所有晶面與晶帶軸之間滿足晶帶軸定律，通常我們得到的某晶帶軸的電子衍射花樣就是該晶帶軸的零層倒易面。對于任一晶帶軸而言，除了零層
菊池花樣怎么形成的
菊池線 Kikuchi patterns 菊池正士（1902 年 8 月 25 日～1974 年 11 月 12 日，日本核物理學家，他最早(1928 年， 菊池正士 早于 TEM 的發明)發現了電子顯微學中出現的菊池花樣（Kikuchi patterns），并給出了正確 的理論解釋。 kikuch
菊池花樣怎么形成的
菊池線 Kikuchi patterns 菊池正士（1902 年 8 月 25 日～1974 年 11 月 12 日，日本核物理學家，他最早(1928 年， 菊池正士 早于 TEM 的發明)發現了電子顯微學中出現的菊池花樣（Kikuchi patterns），并給出了正確 的理論解釋。 kikuch
理解了“菊池線”，您的電鏡分析能力將提升一個數量級
了解菊池線對電鏡工作者來說簡直太重要啦，雖然我們得到的TEM像上看不出來跟菊池線有什么關系，但在獲得這張TEM像的時候，必須借助菊池線的幫助！拍TEM像的首要事情就是要轉正帶軸，使菊池極與透射斑點重合，這樣才能確保入射電子與晶面平行。另外，在對樣品進行系列傾轉獲得不同帶軸的電子衍射花樣時，了解菊
有哪幾種電子衍射
1）電子顯微鏡中主要有SAED選區電子衍射、μ-衍射、納米衍射、CBED會聚束衍射、EBSD背散射電子衍射五種電子衍射。 2）操作特點： ①SAED選區電子衍射采用TEM模式，利用μ級平行入射電子束照射試樣，通過物鏡像平面處的選區光闌選取特定區域做電子衍射，得到與選擇區域對應的電子衍射花樣。 ②μ-
有哪幾種電子衍射，說明各自的操作特點和基本應用
1）電子顯微鏡中主要有SAED選區電子衍射、μ-衍射、納米衍射、CBED會聚束衍射、EBSD背散射電子衍射五種電子衍射。 2）操作特點： ①SAED選區電子衍射采用TEM模式，利用μ級平行入射電子束照射試樣，通過物鏡像平面處的選區光闌選取特定區域做電子衍射，得到與選擇區域對應的電子衍射花樣。 ②μ-
TEM－Specimen－Preparation：Preparative－Techniques－for－the－TEM
For routine transmission electron microscopy (TEM), it is generally accepted that specimens should be thin, dry and contain molecules which diffract e
TEM（透射電子顯微鏡）透射電子衍射圖譜解析
TEM（透射電子顯微鏡）透射電子衍射圖譜解析2017-12-04 07:00透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短
選區電子衍射上怎么標注各個晶面數據
衍射斑點是有倒格子空間，所以量衍射中心到某點的距離后，還需要轉到正空間得到相應的數值，把這個數值與PDF卡片對照可以確定相當的晶面。1、所給出的三幅圖是如下得到的：1.低倍透射得a；2. SAED得b；3. 在a中白框處放大得到高分辨的c圖。c的插圖是對高分辨相進行快速傅立葉變換得到。2、這里關鍵是
選區電子衍射上怎么標注各個晶面數據
衍射斑點是有倒格子空間，所以量衍射中心到某點的距離后，還需要轉到正空間得到相應的數值，把這個數值與PDF卡片對照可以確定相當的晶面。1、所給出的三幅圖是如下得到的：1.低倍透射得a；2. SAED得b；3. 在a中白框處放大得到高分辨的c圖。c的插圖是對高分辨相進行快速傅立葉變換得到。2、這里關鍵是
haadfstem－和afm－比較哪個更好
STEM的襯度解釋應該和TEM的一樣 質厚、衍射襯度 而HAADF是彈性散射電子所成的像 是原子序數像 襯度和Z平方正比 具體的怎么解釋我也不好說 然后右手定則我沒聽過... 帶軸這么確定的 比如第二個圖 選一個點（用120）叉乘它逆時針方向夾角不超過180度的斑點就可以了 （比如00-1 ） 就可
電子衍射的方法
1、如表面科學中的低能電子衍射（LEED），主要應用于高取向晶體表面晶格的研究，比如畸變，吸附。LEED結構也應用在透射電子顯微鏡（TEM）中，利用聚焦到很小光斑的電子束對納米結構中的局域有序做結構探測。LEED只能夠作晶格類型分析，不能進行元素分析。2、反射式高能電子衍射（RHEED），主要應用于
透射電鏡（TEM）電子衍射在晶體結構分析中的應用一
在研究晶體結構時，很多情況下需要判斷其優勢生長面及生長方向，尤其是納米線、納米帶等。晶體的電子衍射圖是一個二維倒易平面的放大，同時透射電鏡又能得到形貌，分別相當于倒易空間像與正空間像，正空間的一個晶面族(hkl)可用倒空間的一個倒易點 hkl 來表示，正空間的一個晶帶[uvw]可用倒空間的一個倒易面
透射電鏡（TEM）電子衍射在晶體結構分析中的應用三
近些年，以瑞典斯德哥爾摩大學的鄒曉東教授為代表的科學家們發展了自動收集電子衍射花樣并解析納米材料中原子排列的方法，這些方法都減弱了電子衍射動力學效應，使得電子衍射可以像 X-射線單晶衍射一樣解析晶體的原子排列結構。這些方法主要包括旋進電子衍射(PED，Procession electron diff
透射電鏡（TEM）電子衍射在晶體結構分析中的應用二
手動解析納米晶體的晶體結構參數如前所述，一張電子衍射圖代表一個晶帶軸的倒易點陣，只能得到晶體結構二維的信息，如果讓晶體沿某一特定晶帶軸旋轉，獲得一系列的電子衍射花樣，即可得到多個晶帶軸的倒易點陣，根據這些電子衍射花樣和傾轉角可以重構出三維的倒易點陣，從而可以確定未知結構所屬的晶系和晶胞參數。特定晶帶
斑點雜交的DNA斑點雜交方法
①先將膜在水中浸濕，再放到15×SSC中。②將DNA樣品溶于水或TE，煮沸5min，冰中速冷。③用鉛筆在濾膜上標好位置,將DNA點樣于膜上,每個樣品一般點5μl(2~10μg DNA)。④將膜烘干，密封保存備用。
TEM物鏡
物鏡（object lens）????????處于樣品室下面，緊貼樣品臺，是電鏡中的第1個成像元件，在物鏡上產生哪怕是極微小的誤差，都會經過多級高倍率放大而明顯地暴露出來，所以這是電鏡的一個最重要部件，決定了一臺電鏡的分辨本領，可看作是電鏡的心臟。????????（1）特點?物鏡是一塊強磁透鏡，焦距
TEM樣品
1. 樣品一般應為厚度小于100nm的固體。2. 感興趣的區域與其它區域有反差。3. 樣品在高真空中能保持穩定。4. 不含有水分或其它易揮發物，含有水分或其他易揮發物的試樣應先烘干除去。5. 對磁性試樣要預先去磁，以免觀察時電子束受到磁場的影響。TEM樣品常放置在直徑為3mm的200目樣品網上，在樣
TEM原理
原 理透射電鏡和光學顯微鏡的各透鏡及光路圖基本一致，都是光源經過聚光鏡會聚之后照到樣品，光束透過樣品后進入物鏡，由物鏡會聚成像，之后物鏡所成的一次放大像在光鏡中再由物鏡二次放大后進入觀察者的眼睛，而在電鏡中則是由中間鏡和投影鏡再進行兩次接力放大后最終在熒光屏上形成投影供觀察者觀察。電鏡物鏡成像光路圖
透射電鏡(TEM)與掃描電鏡(SEM)在測試中的一些常見問題
電子顯微鏡可分為掃描電子顯微鏡 (SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)兩大類，在實際測試中常常遇到一些難以解決的問題，以下是小編整理的透射電鏡(TEM)與掃描電鏡(SEM)在測試中的一些常見問題。 1?透射電鏡簡單分類? 透射電鏡根據產生電子的方式不同可以分為熱電子發射型和場發射型?熱電子發
TEM照相室
照相室????????在觀察中電子束長時間轟擊生物醫學樣品標本，必會使樣品污染或損傷。所以對有診斷分析價值的區域，若想長久地觀察分析和反復使用電鏡成像結果，應該盡快把它保留下來，將因為電子束轟擊生物醫學樣品造成的污染或損傷降低到最小。此外，熒光屏上的粉質顆粒的解像力還不夠高，尚不能充分反映出電鏡成像
TEM－Visualization－of－Microtubules
LEVEL IIMaterialsCoated grid for TEM0.1 M ammonium acetate5% ethanol saturated uranyl acetateTransmission electron microscopeProcedureAt the conclusio
TEM照明系統
照明系統（illuminating system）照明系統主要由電子槍、聚光鏡兩部分組成。電子槍有熱發射、冷發射和場發射三種?。最普通的電子槍是熱發射型電子槍，即一根發叉形鎢絲，通電流加熱后，發射出電子束成為電鏡的光源。 聚光鏡的作用是將電子槍發射出的電子束會聚在試樣平面上。改變聚光鏡電
TEM樣品制備
由于透射電子顯微鏡收集透射過樣品的電子束的信息，因而樣品必須要足夠薄，使電子束透過。 試樣分類：復型樣品，超顯微顆粒樣品，材料薄膜樣品等。 制樣設備：真空鍍膜儀，超聲清洗儀，切片機，磨片機，電解雙噴儀，離子薄化儀，超薄切片機等。