怎樣分析TEM衍射斑點？

怎樣分析TEM衍射斑點

怎樣分析TEM衍射斑點？

下圖為選區電子衍射原理圖：

TEM透射電鏡衍射斑點標定目的

1、提高格調提高格調是很容易理解的，因為凡涉是比較有檔次的研究，TEM可謂是必不可少，目前的文章要是少了透射實驗品質會降低不少，審稿人也沒有興趣，這樣的情況下要想引起業界關注怕也是也不太容易。當然，這并不是最主要的，第二個目的才是大家真正關心的。2、輔助進行物相鑒定注意這里說的是“輔助”進行物相鑒定

TEM透射電鏡衍射斑點怎么標定

怎樣標定這是一個大問題，可以先從宏觀上對這個問題進行把握。打一個簡單的比方，警察要查找犯罪嫌疑人是誰，在犯罪現場找到了作案者的小拇指指紋，要查到此人的信息就需要將該小拇指指紋拿到公安局的數據庫中進行比對，一旦該小拇指與其中一個人的小拇指指紋對上了，很可能就是這個人作案。衍射斑點標定的過程與此相同，也

TEM透射電鏡衍射斑點怎么標定

這是一個大問題，可以先從宏觀上對這個問題進行把握。打一個簡單的比方，警察要查找犯罪嫌疑人是誰，在犯罪現場找到了作案者的小拇指指紋，要查到此人的信息就需要將該小拇指指紋拿到公安局的數據庫中進行比對，一旦該小拇指與其中一個人的小拇指指紋對上了，很可能就是這個人作案。衍射斑點標定的過程與此相同，也是利用物

TEM透射電鏡衍射斑點標定目的

標定目的這是大家首先遇到的問題。以筆者的角度來看，目前通過衍射標定可以達到以下兩個目的：提高格調和輔助進行物相鑒定。1提高格調提高格調是很容易理解的，因為凡涉是比較有檔次的研究，TEM可謂是必不可少，目前的文章要是少了透射實驗品質會降低不少，審稿人也沒有興趣，這樣的情況下要想引起業界關注怕也是也不太

衍射斑點是怎么確定出TEM照片中不同的相？

可能的解釋是不同的相析出的慣習面不同，或者不同的相形成的花樣在基體花樣上的位置不同。作者根據基體的衍射花樣可以推知不同相的分布。?鐵素體不銹鋼金相制備 拋光總拋不理想，為什么？?這兩種相的慣習面確實不同，θ撇相是以{100}α為慣習面，Ω相是{111}面析出，不過請問根據基體衍射花樣怎么可以判斷出相

TEM透射電鏡衍射斑點標定第三步

比對數據庫將我們之前計算的d1、d2、d3,、、拿到數據庫中比對，如果誤差較小就挑選出來，挑出來晶面指數還要滿足另外一個條件，就是R3=R1+R2，矢量的加法法則。如果能夠從數據庫里面找到這樣的晶面指數滿足了以上所有條件，那么恭喜你，你已經可以標定你的衍射斑點圖了。標定是終于完成了，可是大家一定會覺

TEM透射電鏡衍射斑點標定第一步

計算晶面數據第一步雖然簡單，但我們還是有必要詳細說明一下晶面間距如何計算。現在我們手中只有一張衍射斑點圖，圖上有幾個圓點，這些衍射斑點是晶體的倒易點陣。此外，還有一個標尺，標尺單位為1/nm（1/nm是倒空間的長度單位）。這樣說可能有點生澀，形象點說，每個人在陽光下一站就會有影子，這個人就好比是晶體

TEM透射電鏡衍射斑點標定第二步

獲取物相數據庫現在我們終于進行到第二步了。我們先以Al為例來說明如何獲得晶面數據庫。通過查找PDF中Al的點陣參數，我們得到Al是面心立方晶體，6個點陣參數是a=0.4049nm,b=0.4049nm,c=0.4049nm,α=90°,β=90°,γ=90°。所有Al的晶面數據庫都是通過這6個參數計

看大神如何僅用word完成TEM透射電鏡衍射斑點標定

今天我們將以衍射斑點為例進行標定，以便大家更為深入的理解TEM衍射斑點標定的三個步驟（注意前方多圖，請在wifi環境下瀏覽）。在正式進入標定的三個步驟前我們首先需要獲得一張高檔次的衍射圖。那么，什么樣的衍射圖才能稱得上高檔次呢？我們可以先舉幾個反例。以上這三幅衍射圖存在各種各樣的問題，但是它們有一個

TEM衍射測晶體

方法：有三種指數直接標定法、比值法(償試－校核法)、標準衍射圖法選擇靠近中心透射斑且不在一條直線上的斑點，測量它們的R，利用R2比值的遞增規律確定點陣類型和這幾個斑點所屬的晶面族指數(hkl)等。(1)、指數直接標定法：(已知樣品和相機 常數L?)可分別計算產生這幾個斑點的晶面間距d=L? /R并與

你離完成TEM透射電鏡衍射斑點標定只差一場實戰！

以上這三幅衍射圖存在各種各樣的問題，但是它們有一個共同的問題就是：無法在衍射圖中找出規整的平行四邊形，標定也就無從談起。 所以，能夠構建出規整的平行四邊形是一張高檔次的衍射圖的關鍵所在。此外，標注正確的標尺，保證衍射斑點清晰有序，衍射圖具備高分辨率等都是好的衍射圖所必需的條件。比如下面這張

TEM的納米衍射模式

衍射模式????????如前所述，通過調整磁透鏡使得成像的光圈處于透鏡的后焦平面處而不是像平面上，就會產生衍射圖樣。對于單晶體樣品，衍射圖樣表現為一組排列規則的點，對于多晶或無定形固體將會產生一組圓環。對于單晶體，衍射圖樣與電子束照射在樣品的方向以及樣品的原子結構有關。通常僅僅根據衍射圖樣上的點的位

電子衍射圖像TEM

電子衍射圖像l?選區衍射（Selected area diffraction, SAD）: 微米級微小區域結構特征。l?會聚束衍射（Convergent beam electron diffraction, CBED）: 納米級微小區域結構特征。l?微束衍射（Microbeam electron d

選區電子衍射TEM

選區電子衍射如果在物鏡的像平面處加入一個選區光闌，那么只有A’B’范圍的成像電子能夠通過選區光闌，并最終在熒光屏上形成衍射花樣。這一部分的衍射花樣實際上是由樣品的AB范圍提供的，因此利用選區光闌可以非常容易分析樣品上微區的結構細節。為了得到晶體中某一個微區的電子衍射花樣，一般用選區衍射的方法，選區光

TEM電子衍射圖像

電子衍射圖像l 選區衍射（Selected area diffraction, SAD）: 微米級微小區域結構特征。l 會聚束衍射（Convergent beam electron diffraction, CBED）: 納米級微小區域結構特征。l 微束衍射（Microbeam electron d

用TEM衍射測晶體

方法：有三種指數直接標定法、比值法(償試－校核法)、標準衍射圖法選擇靠近中心透射斑且不在一條直線上的斑點，測量它們的R，利用R2比值的遞增規律確定點陣類型和這幾個斑點所屬的晶面族指數(hkl)等。(1)、指數直接標定法：(已知樣品和相機 常數L?)可分別計算產生這幾個斑點的晶面間距d=L? /R并與

搞定TEM透射電鏡衍射斑點標定你只需要這三步！

TEM作為一種常用的微觀結構表征技術已經在材料科學、生物等學科被廣泛應用，而作為材料人的你又怎能不對TEM做深入的了解。今天來我們一起來看看如何利用三步法搞定TEM透射電鏡衍射斑點標定。不過在此之前我們先要搞清兩個重要的問題。一、標定目的這是大家首先遇到的問題。以筆者的角度來看，目前通過衍射標定可以

TEM電子衍射的特點

TEM電子衍射花樣的優點

電子衍射花樣的優點：電子衍射能在同一試樣上將形貌觀察與結構分析結合起來。電子波長短，單晶的電子衍射花樣就象晶體的倒易點陣的一個二維截面在底片上放大投影，從底片上的電子衍射花樣可以直觀地辨認出一些晶體的結構和對稱性特點，使晶體結構的研究比X射線的簡單。物質對電子的散射能力強，約為X射線一萬倍，曝光時間

TEM菊池衍射譜的特點

菊池衍射譜的特點1.hkl 菊池線對與中心斑點到 hkl 衍射斑點的連線正交，而菊池線對的間距與兩個斑點之間的距離也相等；2.菊池線一般是明暗配對的直線，在正片上距離透射斑近者為暗線，遠者為亮線；3.菊池線對的中心線則相當于反射晶面與底片的交線；兩條中心線的交點即為兩個對應平面所屬的晶帶軸與熒光屏的

TEM菊池衍射譜的特點

菊池衍射譜的特點1.hkl 菊池線對與中心斑點到 hkl 衍射斑點的連線正交，而菊池線對的間距與兩個斑點之間的距離也相等；2.菊池線一般是明暗配對的直線，在正片上距離透射斑近者為暗線，遠者為亮線；3.菊池線對的中心線則相當于反射晶面與底片的交線；兩條中心線的交點即為兩個對應平面所屬的晶帶軸與熒光屏的

TEM的多級衍射原理是什么

　　透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡[1] ，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、

多晶和單晶電子衍射斑點計算過程

單晶由于只有一個晶格，電子衍射圖樣是大量衍射亮點，排布成環狀。多晶是由多個晶粒組成的，其電子衍射花樣是連續的同心圓環。1927年發現電子衍射現象，1931年德國科學家盧斯卡（Ruska）研制出了世界上第一臺電子顯微鏡，五十年代以后，電子衍射工作開始在電鏡上進行，把對物相的形貌觀察和結構分析結合起來，

TEM電子衍射花樣的不足不處

電子衍射花樣的不足不處：電子衍射強度有時幾乎與透射束相當，以致兩者產生交互作用，使電子衍射花樣，特別是強度分析變得復雜，不能象X射線那樣從測量衍射強度來廣泛的測定結構；散射強度高導致電子透射能力有限，要求試樣薄，這就使試樣制備工作較X射線復雜；在精度方面也遠比X射線低。

TEM分析中電子衍射花樣的標定原理：電子衍射的原理

電子衍射譜的種類在透射電鏡的衍射花樣中，對于不同的試樣，采用不同的衍射方式時，可以觀察到多種形式的衍射結果。如單晶電子衍射花樣，多晶電子衍射花樣，非晶電子衍射花樣，會聚束電子衍射花樣，菊池花樣等。而且由于晶體本身的結構特點也會在電子衍射花樣中體現出來，如有序相的電子衍射花樣會具有其本身的特點，另外，

由tem衍射花樣怎么表明化學成分

也可事先計算R2／R1、比值法(償試－校核法)，而第二個斑點的指數(h2k2l2)、比值法(償試－校核法)、指數直接標定法，R3／R1、標準衍射圖法選擇靠近中心透射斑且不在一條直線上的斑點;R12比值查表(例P94)。任取(h1k1l1);R并與標準d值比較直接寫出(hkl,再利用Ri之間的夾角來校

由tem衍射花樣怎么表明化學成分

可事先計算R2／R1、比值法(償試－校核法)，而第二個斑點的指數(h2k2l2)、比值法(償試－校核法)、指數直接標定法，R3／R1、標準衍射圖法選擇靠近中心透射斑且不在一條直線上的斑點;R12比值查表(例P94)。任取(h1k1l1);R并與標準d值比較直接寫出(hkl,再利用Ri之間的夾角來校驗

TEM分析中電子衍射花樣的標定原理:－孿晶電子衍射花樣

孿晶電子衍射花樣所謂孿晶，通常指按一定取向關系并排生長在一起的同一物質的兩個晶粒。從晶體學上講，可以把孿晶晶體的一部分看成另一部分以某一低指數晶面為對稱面的鏡像；或以某一低指數晶向為旋轉軸旋轉一定的角度。孿晶的分類：1、按晶體學特點：反映孿晶和旋轉孿晶；2、按形成方式：生長孿晶和形變孿晶；3、按孿晶