原子吸收光譜分析法背景吸收的波長特性
背景吸收在不同的光譜區域是不同的,有著明顯的波長分布特性。如烴火焰的分子吸收出現在波長小于230nm,CH和C2分子吸收帶分別出現在387.2～410.0mm和468.5～473.7nm。堿金屬鹵化物的分子吸收譜帶出現在200～400nm。氯化鎳的背景吸收峰是NiCl2分子蒸發產生的,出現在10～420nm,硝酸鎳的第一個背景吸收峰是其分解產物NO產生的,出現在190～225nm,第二個背景吸收峰是NiO分子蒸發產生的。從波長特性考慮,背景吸收可分為四類:①背景吸收與波長無關,如Mie散射引起的背景吸收;②光致解離產生的分子吸收背景,其大小隨波長連續變化,又稱連續背景,如堿金屬鹵化物的分子吸收光譜;③隨波長變化分子吸收帶,如CN分子光譜;④由分子振動和轉動產生的窄帶分子吸收光譜或銳線光譜,又稱為結構背景。......閱讀全文
原子吸收光譜分析法背景吸收的波長特性
背景吸收在不同的光譜區域是不同的,有著明顯的波長分布特性。如烴火焰的分子吸收出現在波長小于230nm,CH和C2分子吸收帶分別出現在387.2～410.0mm和468.5～473.7nm。堿金屬鹵化物的分子吸收譜帶出現在200～400nm。氯化鎳的背景吸收峰是NiCl2分子蒸發產生的,出現在10～4
原子吸收光譜分析法背景吸收的時間特性
在原子化過程中,石墨管溫度在極短的時間內急劇升至某一溫度,管內的試樣由固相轉變為蒸氣狀態,其膨脹、擴散過程隨溫度而急劇變化,管內分析元素的原子蒸氣和基體物質的蒸氣濃度也隨之發生急劇變化,起原子吸收和背景吸收信號亦隨時間急劇變化。但背景吸收和原子吸收信號的出現時間有明顯的差異性,硝酸鈰、硝酸鐠、硝酸釹
原子吸收光譜分析法背景吸收的溫度特性
分子吸收是未解離的分子吸收光源輻射能量而產生的。石墨爐內基體物質濃度主要取決于基體物質的沸點、解離能和溫度背景吸收與原子化溫度有關,如尿在340℃～1100℃有分子吸收,峰值出現在640℃背景吸收的起始溫度和峰值溫度與NH4Cl的升華溫度和沸點接近。在1100℃～1910℃出現第二個背景吸收帶,峰值
原子吸收光譜分析法背景吸收信號的空間特性
在原子化過程中,石墨管管壁和管內空間的溫度分布是不均勻的,管內待測元素的原子蒸氣和基體物質的蒸氣濃度的分布也是不均勻的。這種分布的不均勻性又隨溫度而急劇變化,使石墨爐內背景吸收具有明顯的空間分布特性,要求測量原子吸收與背景吸收信號時測量光束應通過爐內相同的位置。
原子吸收光譜分析法背景吸收的概念
背景吸收是原子化器中的氣態分子對光的吸收或高濃度鹽的固體微粒對光的散射而引起的。
原子吸收光譜分析法連續光源校正背景法
在原子吸收光譜分析法中,背景校正都是通過兩次測量完成的。第一次是在分析線波長處,測量被測元素原子蒸氣和共存氣相物質(包括固體微粒)所產生的吸收信號(原子吸收+背景吸收),稱為樣品信號。第二次在分析線波長處,或鄰近位置測量共存物質的吸收信號(背景吸收信號),稱為參考信號。兩者吸光度相減,即為扣除了背景
原子吸收光譜的背景是怎么產生的
原吸收光譜扣除背景通三類： 連續光源校背景 空陰極燈自吸效應校 背景塞曼效應校背景 (1)連續光源校背景 待測元素波紫外波段(180-400nm)采用氘燈或氘空陰 極燈波見光及近紅外波段采用鎢或碘鎢燈現代 AAS 儀器應用較廣泛種 校背景其原理用待測元素 HCL 輻射作品光束測量總吸收信號用
原子吸收光譜的背景是怎么產生的
原吸收光譜扣除背景通三類： 連續光源校背景 空陰極燈自吸效應校 背景塞曼效應校背景 (1)連續光源校背景 待測元素波紫外波段(180-400nm)采用氘燈或氘空陰 極燈波見光及近紅外波段采用鎢或碘鎢燈現代 AAS 儀器應用較廣泛種 校背景其原理用待測元素 HCL 輻射作品光束測量總吸收信號用
原子吸收光譜的背景是怎么產生的
原吸收光譜扣除背景通三類：?連續光源校背景 空陰極燈自吸效應校 背景塞曼效應校背景 (1)連續光源校背景 待測元素波紫外波段(180-400nm)采用氘燈或氘空陰 極燈波見光及近紅外波段采用鎢或碘鎢燈現代 AAS 儀器應用較廣泛種 校背景其原理用待測元素 HCL 輻射作品光束測量總吸收信號用
原子吸收光譜的背景是怎么產生的
原子吸收光譜是包含各種波長的復合光投射到原子上后得到的光譜,只有原子的特征譜線位置的光被吸收因而出現暗線,未被吸收的光仍然存在,形成明亮背景.
原子吸收光譜的氘燈扣背景和自吸收扣背景的區別
原子吸收扣背景的3種常見方法：自吸收扣背景、氘燈扣背景和塞曼效應扣背景自吸收扣背景法缺點：1、可能會校正過度 2、燈損耗大，影響燈的壽命。氘燈扣背景法缺點：1、只能校正紫外區的背景信號，不能校正可見區的背景信號；2、空心陰極燈和氘燈的光斑很難重合，導致校正誤差；3、有臨近譜線的干擾時，可能會校正過度
火焰原子吸收光譜法的研究背景
背景主要涉及樣品前處理和基體改進劑背景吸收主要來源于分子，檢測器能分辨原子化了的元素，但如果在該吸收波長附近有未原子化的分子存在，這些吸收就會對元素信號產生干擾，所以選擇和控制好你的灰化和原子化溫度，有利于消除這些干擾。也可以通過加入基改提高灰化和原子化溫度，使得這些分子不在該波長該溫度下存在，以降
原子吸收光譜法背景吸收干擾和消除方法
背景是一種非原子吸收現象,多數人認為主要來自:(1)光散射(微固體顆粒引起)?火焰中的氣溶膠固體微粒存在,會使入射光發生散射,產生高于真實值的假吸收,使結果偏高。(2)分子吸收?分子吸收是指在原子化過程中生成的氣體分子、氧化物及鹽類分子對輻第三射吸收而引起的干擾,包括火焰的成分,如OH、CH、NH、
原子吸收光譜中的背景吸收及儀器校正技術的發展
摘 要 介紹了火焰原子吸收光譜(FAAS)和石墨爐原子吸收光譜(GFAAS)背景吸收干擾的特點,討論了氘燈連續光源背景校正、塞曼效應背景校正、自吸收效應背景校正的原理和優缺點,對現代原子吸收分光光度計中各種背景校正方式的發展進行了綜述。 干擾少,靈敏度高,選擇性好是原子吸收光譜(AAS)分析的
原子吸收光譜測定水中鈣離子含量背景吸收產生原因
在使用銳線光源條件下，基態原子蒸汽對共振線的吸收，符合朗伯-比爾定律，即：A=lg（I0/I）=KLN0。在試樣原子化時，火焰溫度低于3000?K時，對大多數元素來講，原子蒸汽中基態原子的數目實際上十分接近原子總數。在一定實驗條件下，待測元素的原子總數目與該元素在試樣中的濃度呈正比。則：A=kc。用
原子吸收光譜分析法的應用
原子吸收光譜分析法在理論研究中的應用: 原子吸收可作為物理和物理化學的一種實驗手段，對物質的一些基本性能進行測定和研究。石墨爐法容易做到控制蒸發過程和原子化過程，所以用它測定一些基本參數有很多優點。用電熱原子化器所測定的一些有元素離開機體的活化能、氣態原子擴散系數、解離能、振子強度、光譜線輪廓的
原子吸收光譜法中扣除背景方法有哪些
原子吸收光譜法中扣除背景方法通常有三大類：?連續光源校正背景，?空心陰極燈自吸效應校?正背景，塞曼效應校正背景。 (1)連續光源校正背景。 當待測元素波長在紫外波段(180-400nm)，采用氘燈或氘空心陰?極燈。波長在可見光及近紅外波段時采用鎢或碘鎢燈，是現代?AAS?儀器應用較廣
原子吸收光譜法中扣除背景方法有哪些
原子吸收光譜法中扣除背景方法通常有三大類： 連續光源校正背景， 空心陰極燈自吸效應校 正背景，塞曼效應校正背景。 (1)連續光源校正背景。 當待測元素波長在紫外波段(180-400nm)，采用氘燈或氘空心陰 極燈。波長在可見光及近紅外波段時采用鎢或碘鎢燈，是現代 AAS 儀器應用較廣泛的一種 校
原子吸收光譜法中扣除背景方法有哪些？
原子吸收光譜法中扣除背景方法通常有三大類：?連續光源校正背景，?空心陰極燈自吸效應校?正背景，塞曼效應校正背景。 (1)連續光源校正背景。 當待測元素波長在紫外波段(180-400nm)，采用氘燈或氘空心陰?極燈。波長在可見光及近紅外波段時采用鎢或碘鎢燈，是現代?AAS?儀器應用較廣
原子吸收光譜法中扣除背景方法有哪些
原子吸收光譜法中扣除背景方法通常有三大類：連續光源校正背景，空心陰極燈自吸效應校正背景，塞曼效應校正背景。\x0d\x0a(1)連續光源校正背景。\x0d\x0a當待測元素波長在紫外波段(180-400nm)，采用氘燈或氘空心陰極燈。波長在可見光及近紅外波段時采用鎢或碘鎢燈，是現代AAS儀器應用較廣
火焰法原子吸收光譜儀的基本特性
一、火焰的燃燒特性 著火極限，著火溫度和燃燒速度是火焰的燃燒特性，常統稱為火焰三要素。對于一個特點的燃氣和助燃氣混合氣體，只有燃氣在該混合氣體中的百分含量處于某一范圍內，燃燒才能開始，并擴展到個混合氣體中，形成火焰。此燃氣的含量的上下限稱為著火極限。在著火極限內，燃燒能夠自發地擴展到整個混合氣體
火焰法原子吸收光譜儀的基本特性
一、火焰的燃燒特性 著火極限，著火溫度和燃燒速度是火焰的燃燒特性，常統稱為火焰三要素。對于一個特點的燃氣和助燃氣混合氣體，只有燃氣在該混合氣體中的百分含量處于某一范圍內，燃燒才能開始，并擴展到個混合氣體中，形成火焰。此燃氣的含量的上下限稱為著火極限。在著火極限內，燃燒能夠自發地擴展到整個混合氣
原子吸收光譜法中的背景干擾是怎么產生的
原子吸收光譜分析中的背景干擾主要是指原子化過程中產生的分子吸收和固體微粒產生的光散射產生的干擾效應。背景干擾往往使吸光度增大，產生正誤差。光譜背景干擾的抑制和校正a.光譜背景干擾的抑制 在實際工作中，多采用改變火焰類型、燃助比和調節火焰觀測區高度來抑制分子吸收干擾；在石墨爐原子吸收光譜分析中，常選用
原子吸收光譜法中的背景干擾是怎么產生的
原子吸收光譜分析中的背景干擾主要是指原子化過程中產生的分子吸收和固體微粒產生的光散射產生的干擾效應。背景干擾往往使吸光度增大，產生正誤差。 光譜背景干擾的抑制和校正 a.光譜背景干擾的抑制?在實際工作中，多采用改變火焰類型、燃助比和調節火焰觀測區高度來抑制分子吸收干擾；在石墨爐原子吸收光譜分析中
原子吸收光譜法中的背景干擾是怎么產生的
原子吸收光譜分析中的背景干擾主要是原子化過程中產生的分子吸收和固體微粒產生的光散射產生的干擾效應。背景干擾往往使吸光度增大，產生正誤差。原子吸收光譜（Atomic Absorption Spectroscopy，AAS)，即原子吸收光譜法，是基于氣態的基態原子外層電子對紫外光和可見光范圍的相對應原子
原子吸收連續光源校正背景
在原子吸收光譜分析法中，背景校正都是通過兩次測量完成的。*次是在分析線波長處，測量被測元素原子蒸氣和共存氣相物質所產生的吸收信號，稱為樣品信號。第二次在分析線波長處，或鄰近位置測量共存物質的吸收信號，稱為參考信號。兩者吸光度相減，即為扣除了背景吸收后的原子吸收信號。連續光譜法是1965年由S.R K
火焰原子吸收光譜法與原子吸收光譜的區別
火焰是指原子化的方法，與之對應的還有石墨爐原子化法；原子吸收光譜是光源經原子化器后與元素對應譜線被吸收后再經分光系統分光色散后形成的光譜。
原子吸收光譜分析法一般步驟
一般的手續是將溶樣將樣品中待測元素進入溶液（火焰法），分離可能存在的干擾，然后用原吸儀器測定溶液中的待測元素吸光度值。計算出溶液中該元素的濃度。
原子吸收光譜分析法的基本原理
原子吸收是基態原子受激吸收躍遷的過程,當有輻射通過自由原子蒸氣,且入射輻射的頻率等于原子中外層電子由基態躍遷到較高能態所需能量的輻射時,原子就產生共振吸收.原子吸收分光光度法就是根據物質產生的原子蒸氣對特定波長光的吸收作用來進行定量分析的.當光源發射的某一特征波長的輻射通過原子蒸氣時,被原子中的
原子吸收光譜分析法的基本原理
原子吸收是基態原子受激吸收躍遷的過程,當有輻射通過自由原子蒸氣,且入射輻射的頻率等于原子中外層電子由基態躍遷到較高能態所需能量的輻射時,原子就產生共振吸收.原子吸收分光光度法就是根據物質產生的原子蒸氣對特定波長光的吸收作用來進行定量分析的.當光源發射的某一特征波長的輻射通過原子蒸氣時,被原子中的外層