原吸收光譜扣除背景通三類： 連續光源校背景 空陰極燈自吸效應校 背景塞曼效應校背景
(1)連續光源校背景
待測元素波紫外波段(180-400nm)采用氘燈或氘空陰 極燈波見光及近紅外波段采用鎢或碘鎢燈現代 AAS 儀器應用較廣泛種 校背景其原理用待測元素 HCL 輻射作品光束測量總吸收信號用連續 光光源輻射作參比光束并視純背景吸收 光輻射交替通原化器 兩所測吸收值相 減使背景校種產背景校足或度兩種光源光強度要匹配 光斑要重合致近使用氘空陰極燈克服類足處
(2)自吸(收)效應校背景稱 S-H 校背景
其原理低電流脈沖供電(峰值電 流 60mA)于 HCL 使其發射銳線光譜 并測原吸收背景吸收總吸收值 短高電 流 脈沖供電(峰值電流約 600mA )于 HCL 使其發射譜線產自吸(收)效應原蒸氣吸 收其測吸收值視背景吸收值兩值相減背景校吸收值種簡單 本低能校某些結構背景與原譜線重疊干擾進行全波段 190-900nm 背景校 校精密度高所 HCL 燈產自吸些元素 AL,CA,V 等靈敏度降強 脈 沖影響 HCL 壽命該作其校補充
(3)塞曼 Zeeman 效應校背景利用光源磁場作用產譜線裂現象校背景
種背景校種：磁場施加于 HCL磁場施加于原化器利 用橫向效應利用其縱向效應用恒定磁場用交變磁場交變磁場固定磁 場變磁場強度般用 2 磁場 Zeeman 背景校 近 3 磁場 Zeeman 背景校 Zee-man 校背景 GFAAS 用比較FAAS 用比較少足處：比規食品 線性態范圍靈敏度所降別元素譜線裂