影響電感耦合等離子溫度的因素分析
①載氣流量：流量增大，中心部位溫度下降； ②載氣的壓力：激發溫度隨載氣壓力的降低而增加； ③頻率和輸入功率：激發溫度隨功率增大而增高，近似線性關系，在其他條件相同時，增加頻率，放電溫度降低； ④第三元素的影響：引入低電離電位的釋放劑的等離子體，電子溫度將增加。......閱讀全文
影響電感耦合等離子溫度的因素分析
①載氣流量：流量增大，中心部位溫度下降； ②載氣的壓力：激發溫度隨載氣壓力的降低而增加； ③頻率和輸入功率：激發溫度隨功率增大而增高，近似線性關系，在其他條件相同時，增加頻率，放電溫度降低； ④第三元素的影響：引入低電離電位的釋放劑的等離子體，電子溫度將增加。
哪些因素影響電感耦合等離子體質譜儀的靈敏度
我們用的是熱電的ICP-MS，可是最近鈾信號穩定性總是調不到2%以下，以前我們調節信號時，是Be比較難調，現在Be挺好，可是鈾又不好了，請問各位高手，這是什么原因呢？是否信號穩定性不在2%以下就不可以做實驗呢？答：我們調信號時一般不看Be， 如果Co，In，U的精密度小于3%就很好了， 此時Be一般
電感耦合等離子發射光譜法的干擾因素
干擾及消除ICP-AES法通常存在的干擾大致可分為兩類:一類是光譜干擾,主要包括了連續背景和譜線重疊干擾,另一類是非光譜干擾,主要包括了化學干擾、電離干擾、物理干擾以及去溶劑干擾等,在實際分析過程中各類干擾很難截然分開。在一般情況下,必須予以補償和校正。此外,物理干擾一般由樣品的粘滯程度及表面張力變
icp電感耦合等離子工作原理
質譜分析法主要是通過對樣品的離子的質荷比的分析而實現對樣品進行定性和定量的一種方法。因此，質譜儀都必須有電離裝置把樣品電離為離子，有質量分析裝置把不同質荷比的離子分開,經檢測器檢測之后可以得到樣品的質譜圖，由于有機樣品,無機樣品和同位素樣品等具有不同形態、性質和不同的分析要求,所以，所用的電離裝置、
電感耦合等離子體質譜法
一、內容概述電感耦合等離子體質譜法（Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry，縮寫為ICP-MS）是20世紀80年代發展起來的新的分析測試技術。它以獨特的接口技術將ICP的高溫（7000K）電離特性與四極桿質譜計的靈敏快速掃描的優點相結合而形成的一種新
電感耦合等離子體質譜法
一、內容概述電感耦合等離子體質譜法（Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry，縮寫為ICP-MS）是20世紀80年代發展起來的新的分析測試技術。它以獨特的接口技術將ICP的高溫（7000K）電離特性與四極桿質譜計的靈敏快速掃描的優點相結合而形成的一種新
電感耦合等離子體質譜法
電感耦合等離子體質譜法（Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry，簡稱ICP-MS）是一種先進的分析技術，結合了電感耦合等離子體和質譜技術，可用于快速、準確地測定樣品中的元素組成和含量。首先，ICP-MS利用高頻電感耦合等離子體產生高溫、高能量的等離子
電感耦合等離子體質譜法
一、內容概述電感耦合等離子體質譜法（Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry，縮寫為ICP-MS）是20世紀80年代發展起來的新的分析測試技術。它以獨特的接口技術將ICP的高溫（7000K）電離特性與四極桿質譜計的靈敏快速掃描的優點相結合而形成的一種新
影響等離子體溫度的因素
載氣流量：流量增大，中心部位溫度下降；載氣的壓力：激發溫度隨載氣壓力的降低而增加；頻率和輸入功率：激發溫度隨功率增大而增高，近似線性關系，在其他條件相同時，增加頻率，放電溫度降低；第三元素的影響：引入低電離電位的釋放劑（如T1）的等離子體，電子溫度將增加。
電感耦合等離子體的形成
? ? ICP的形成就是工作氣體的電離過程。為了形成穩定的ICP炬焰需要四個條件：? ?高頻高強度的電磁場??，工作氣體?，維持氣體穩定放電的石英矩管?，電子離子源 ? ??矩管是由直徑20mm的三重同心石英管構成。石英外管和中間管之間同10~20L/min的氬氣，其作用是作為工作氣體形成等離子體并
電感耦合等離子體的形成
?Agilent 7500 ICP-MS使用的是ICP儀器上通用的Fassel型炬管。這種炬管由三個同心石英管組成，每層管路中流經的氣體也有所不同。如果最中心的管路使用鉑或藍寶石材質的內插管，則可檢測含HF的樣品。? ???炬管的一端深入工作線圈中，工作線圈可以誘導產生用于樣品離子化的等離子體。為防
電感耦合等離子體光譜儀分析方法
電感耦合等離子體(ICP)是由高頻電流經感應線圈產生高頻電磁場，使工作氣體形成等離子體，并呈現火焰狀放電(等離子體焰炬)，達到10000K的高溫，是一個具有良好的蒸發－原子化－激發－電離性能的光譜光源。而且由于這種等離子體焰炬呈環狀結構，有利于從等離子體中心通道進樣并維持火焰的穩定；較低的載氣流速(
電感耦合等離子體質譜儀維護保養要點分析
進樣系統 - 霧化器 (1)由于霧化器中心的毛細管口徑非常小，要求樣品要溶解的徹底，不得含有沉淀或漂浮物，如果有少量沉淀要用濾膜進行過濾，否則容易堵塞霧化器。 (2)在用普通進樣系統時，不得含有HF或氟化物，否則容易損壞矩管和霧化器，如果需要分析此類樣品。需更換耐HF進樣系統。 進樣系統 – 霧化室
電感耦合等離子體質譜儀概述
測定超痕量元素和同位素比值的儀器。由等離子體發生器，霧化室，炬管，四極質譜儀和一個快速通道電子倍增管（稱為離子探測器或收集器）組成。其工作原理是：霧化器將溶液樣品送入等離子體光源，在高溫下汽化,解離出離子化氣體,通過銅或鎳取樣錐收集的離子,在低真空約133.322帕壓力下形成分子束,再通過1～2
電感耦合等離子質譜工作原理
質譜分析法主要是通過對樣品的離子的質荷比的分析而實現對樣品進行定性和定量的一種方法。因此，質譜儀都必須有電離裝置把樣品電離為離子，有質量分析裝置把不同質荷比的離子分開,經檢測器檢測之后可以得到樣品的質譜圖，由于有機樣品,無機樣品和同位素樣品等具有不同形態、性質和不同的分析要求,所以，所用的電離裝置、
電感耦合等離子體質譜儀分類
電感耦合等離子體質譜儀分類有多種。1、按分析目的可分：電感耦合等離子體實驗室質譜儀和電感耦合等離子體工業質譜儀。2、按結構可分：臺式電感耦合等離子體質譜儀和落地式電感耦合等離子體質譜儀。3、按分析規模可分：小型電感耦合等離子體質譜儀和大型電感耦合等離子體質譜儀。4、按分辨率可分：低分辨電感耦合等離子
電感耦合等離子體激發源
激發源即ICP光源，是發射光譜儀中一個極為重要的組成部分，它的作用是給分析試樣提供蒸發、原子化或離子化激發的能量，使其發射出特征譜線。電感耦合等離子體裝置由射頻發生器和等離子體炬管組成。圖8.4 ICP光譜儀結構圖8.2.1.1 射頻發生器射頻發生器(也稱高頻發生器)是ICP的高頻供電裝置，為等離子
電感耦合等離子質譜工作原理
質譜分析法主要是通過對樣品的離子的質荷比的分析而實現對樣品進行定性和定量的一種方法。因此，質譜儀都必須有電離裝置把樣品電離為離子，有質量分析裝置把不同質荷比的離子分開,經檢測器檢測之后可以得到樣品的質譜圖，由于有機樣品,無機樣品和同位素樣品等具有不同形態、性質和不同的分析要求,所以，所用的電離裝置、
電感耦合高頻等離子體（ICP）
電感耦合高頻等離子體（ICP）是本世紀60年代提出，70年代獲得迅速發展的一種新型的激發光源。等離子體是一種電離度大于0.1%的電離氣體，由電子、離子、原子和分子所組成，其正負電荷密度幾乎相等。整體呈現中性。通常，它是由高頻發生器、等離子炬管和工作氣體等三部分組成。高頻發生器的作用是產生高頻磁場以供
電感耦合等離子體的定量分析介紹
電感耦合等離子體（ICP）是由高頻電流經感應線圈產生高頻電磁場，使工作氣體形成等離子體，并呈現火焰狀放電（等離子體焰炬），達到10000K的高溫，是一個具有良好的蒸發－原子化－激發－電離性能的光譜光源。ICP定量分析方法主要有外標法、標準加入法和內標法：1、外標法。利用標準試樣測的常數后，又用該式來
電感耦合等離子體質譜儀的用途
測定超痕量元素和同位素比值的儀器。由等離子體發生器，霧化室，炬管，四極質譜儀和一個快速通道電子倍增管（稱為離子探測器或收集器）組成。主要用途： 1.痕量及超痕量多元素分析 2.同位素比值分析儀器類別： /儀器儀表 /成份分析儀器 /質譜儀指標信息： 靈敏度：115mbarIn>2×107Cps pp
分析電感耦合等離子體光譜儀的工作原理
電感耦合等離子體光譜儀可用于地質、冶金、稀土及磁材料、環境、醫藥衛生、生物、海洋、石油、化工新型材料、核工業、農業、食品商檢、水質等各領域及學科的樣品分析。可以快速、準確地檢測從微量到常量約70種元素。?ICP原理：高頻振蕩器產生高頻電流，經耦合系統連接在位于等離子體發生管上端，銅制內部用水冷卻的管
電感耦合等離子體質譜儀相關簡介
主要用途： 1.痕量及超痕量多元素分析 2.同位素比值分析 儀器類別： 0303071402 /儀器儀表 /成份分析儀器 /質譜儀 指標信息： 靈敏度：115mbarIn>2×107Cps ppm-1 檢出限：Cu
電感耦合等離子體質譜儀是什么
測定超痕量元素和同位素比值的儀器。由等離子體發生器，霧化室，炬管，四極質譜儀和一個快速通道電子倍增管（稱為離子探測器或收集器）組成。其工作原理是：霧化器將溶液樣品送入等離子體光源，在高溫下汽化,解離出離子化氣體,通過銅或鎳取樣錐收集的離子,在低真空約133.322帕壓力下形成分子束,再通過1～2毫米
離子源—電感耦合等離子體
ICP-MS中使用的ICP系統和ICP-AES中使用的ICP系統差不多，僅有很小的改動。在ICP-MS中，炬管改為水平放置，為了控制等離子體相對于接地質譜系統的電位，對耦合負載線圈的接地點做了一些改變，以消除等離子體和接口之間的二次放電現象。這種二次放電現象將引起許多問題，如雙電荷干擾離子的增加、離
激光剝蝕電感耦合等離子體質譜法
一、內容概述固體微區分析技術由于具有測定樣品中元素三維變化的能力，在分析科學的發展中一直是處于令人關注的前沿領域。自從Gray等結合等離子體質譜和激光剝蝕進樣方法，于1985 年開創了激光剝蝕電感耦合等離子體（LA-ICP-MS：laser ablation inductively coupled
電感耦合等離子體質譜儀是什么
測定超痕量元素和同位素比值的儀器。由等離子體發生器，霧化室，炬管，四極質譜儀和一個快速通道電子倍增管（稱為離子探測器或收集器）組成。其工作原理是：霧化器將溶液樣品送入等離子體光源，在高溫下汽化,解離出離子化氣體,通過銅或鎳取樣錐收集的離子,在低真空約133.322帕壓力下形成分子束,再通過1～2毫米
多接收電感耦合等離子體質譜儀
多接收電感耦合等離子體質譜儀是一種用于化學、地球科學、臨床醫學領域的分析儀器，于2004年08月01日啟用。 技術指標 9個法拉第檢測器，1個Daly，4個ion counting 分辨率：2600同位素比值測量結果外精度：好于0.02%。 主要功能 進行同位素分析測量，用于相關的計量標
電感耦合等離子體質譜儀操作使用
電感耦合等離子體質譜儀，可以用于物質試樣中一個或者多個元素的定性、半定量和定量分析;能測定周期表中90%的元素，特別是對金屬元素分析擅長，他和ICP-OES、AAS是化學元素分析的常用的三種儀器，其中ICP-MS的檢測限低，可以達到PPT(10的負12次方)級。標準偏差為2-4%，每個元素的測定時間
電感耦合等離子體質譜儀操作使用
ICP-MS全稱是電感耦合等離子體質譜儀，可以用于物質試樣中一個或者多個元素的定性、半定量和定量分析;能測定周期表中90%的元素，特別是對金屬元素分析擅長，他和ICP-OES、AAS是化學元素分析的常用的三種儀器，其中ICP-MS的檢測限低，可以達到PPT(10的負12次方)級。標準偏差為2-4