X射線熒光的物理原理:當材料暴露在短波長X光檢查,或伽馬射線,其組成原子可能發生電離,如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢,足以驅逐內層軌道的電子,然而這使原子的電子結構不穩定,在外軌道的電子會“回補”進入低軌道,以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源,光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此,物質放射出的輻射,這是原子的能量特性。主要使用X射線束激發熒光輻射,第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。透射測定光譜儀的透射率或它的效率可用輔助單色儀裝置來測定。在可見和近紫外實現這些測量沒有任何困難。測量通過第一個單色儀的光通量,緊接著測量通過兩個單色儀的光通量,以這種方式來確定第二個單色儀的透射率。絕對測量需要知道單色儀的絕對透射率:對于相對測量,以各種波長處的相對單位可以測量透射率。真空紫外線的這些測量有相當大的實驗困難,因此通常使用輔助單色儀。在各種入射角的情況下分別測量衍射光柵的效率。在許多實驗步驟中......閱讀全文
1、X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域. X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器,廣泛應用于各大、專院校,科研院所及廠礦企業. 基
X射線熒光分析技術可以分為兩大類型:波長色散X射線熒光分析(WDXRF)和能量色散X射線熒光分析(EDXRF);而能量色散型又根據探測器的類型分為(Si-PIN)型和SDD型。在不同的應用條件下,這幾種類型的技術各有其突出的特點。目前,X射線熒光分析不僅材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段,開始于20世紀50年代初,經歷了50多年的不斷發展,現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中,X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑;與其
原子發射與原子吸收光譜法是利用原子的價電子激發產生的特征光譜及其強度進行分析。?X-?射線熒光分析法則是利用原子內層電子的躍遷來進行分析。?X?射線是倫琴于?1895?年發現的一種電磁輻射,其波長為?0.01?~?10nm。在真空管內用電加熱燈絲(鎢絲陰極)產生大量熱電子,熱電子被高壓(萬伏)加速撞
a)?X射線用于元素分析,是一種新的分析技術,但在經過二十多年的探索以后,現在已完全成熟,已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。? ??b)?每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外,還與這種元素在樣品中的含量。????c)?根據各元素的特征X射線的強
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波,其特性通常用能量(單位:千電子伏特,keV)和波長(單位:nm)描述。? ??X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行,內層電子(如K層)在足夠能量的X射線照射下脫
處于激發態的原子,要通過電子躍遷向較低的能態轉化,同時輻射出被照物質的特征X射線,這種由入射X射線激發出的特征X射線,稱為熒光X射線,此種輻射又稱為熒光輻射。當紫外光或波長較短的可見光照射到某些物質時,這些物質會發射出各種顏色和不同強度的可見光,而當光源停止照射時,這種光線隨之消失。這種在激發光誘導
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段,開始于20世紀50年代初,經歷了50多年的不斷發展,現在已成為物質組成分析的必備方法之一。在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中,X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑;與其他分析方法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶劑,將鎢精礦粉和純WO3作高倍稀釋熔融制成玻璃片,按WLα分析線X射線熒光光譜儀測定其強度值,換算成相對強度即可得出試樣中三氧化鎢的含量。此法適用于鎢精礦中w(WO3)為0.5%~80%的試樣。儀器波長色散X射線熒光光譜儀器儀,銠靶X光管(≥3kW)。高溫熔
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段,開始于20世紀50年代初,經歷了50多年的不斷發展,現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中,X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑;與其