“獨”得之見，優尼康攜“明星”亮相BCEIA展會
分析測試百科網訊 在第十九屆北京分析測試學術報告會暨展覽會上，優尼康科技有限公司（以下簡稱“優尼康”）展出了一系列具有代表性的膜厚儀、光學輪廓儀等產品。分析測試百科網作為大會支持媒體，全程跟蹤報道。 優尼康現場展臺 優尼康成立于2012年，一直潛心專注于薄膜厚度與表面輪廓測量領域，為半導體、面板等高科技企業和科研院校提供精密測試設備。十年磨一劍，過去的十年里優尼康一直在薄膜測量領域不斷探索，在本次展會上，優尼康團隊展出了膜厚儀、臺階儀、光學輪廓儀等幾款“明星”產品。這些產品應用領域廣泛，在用戶中擁有較高的重復采購率，在市場中充分考慮到了實際應用需求，腳踏實地的沉穩風格使得優尼康在同類廠商中脫穎而出。以下是代表型產品F20系列膜厚儀、F50系列膜厚儀與Profilm3D光學輪廓儀。 F20系列膜厚儀 Filmetrics F20 膜厚儀與配套PC測量系統 F20膜厚儀（全稱：薄膜厚度測量儀）作為最通用的臺式測厚儀器......閱讀全文
“獨”得之見，優尼康攜“明星”亮相BCEIA展會
分析測試百科網訊 在第十九屆北京分析測試學術報告會暨展覽會上，優尼康科技有限公司（以下簡稱“優尼康”）展出了一系列具有代表性的膜厚儀、光學輪廓儀等產品。分析測試百科網作為大會支持媒體，全程跟蹤報道。 優尼康現場展臺 優尼康成立于2012年，一直潛心專注于薄膜厚度與表面輪廓測量領域，為半導體
唯實公司自主研發光學膜厚智能測控儀
近日，成都中科唯實儀器有限責任公司技術研發部門通過自主設計，完成光學膜厚智能測控儀研發任務。 傳統的光學鍍膜采用極值法膜厚監控方式，正確判定極值點是鍍膜操作人員的重要操作技術，它決定著每一爐鍍膜的質量。鍍膜過程中鍍膜操作人員必須全神貫注地注視著膜厚監控儀顯示膜厚相對值的變化，
膜厚儀簡介
膜厚儀又名膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理是，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
測厚儀膜厚儀功能
膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀，又稱金屬涂鍍層厚度測量儀，其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應全球環保工藝準則，故市場上最普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。鼎極天代理的美國博曼高性能XRF鍍層測厚儀,多年深耕鍍層測厚事業經歷不斷創新、追求卓越、獲得廣泛好評最廣
膜厚儀廠家供應
美國博曼臺式X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀，為您提供準確、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析,以及電鍍液分析。Bowman BA-100 Optics?機型采用先進的多孔毛細管光學聚焦裝置,有效縮小測量點斑點的同時,可數倍乃至數十倍提高X射線激發強度。Bowman BA-100 Optics?機型配備
光學輪廓儀的性能特點介紹
光學輪廓儀優化的硬件設計提高的性能； 無與倫比餓測量性能，行業視場上的垂直分辨率 放大倍率0.5×到200×，實現各種不同的表面形狀及材質的測量 在任何放大倍率下都有亞埃級到毫米級的垂直測量范圍，實現空前的測量靈活性 1.jpg 可選的高分辨率照相機提
簡介膜厚儀的使用
測定準備 （1）確保電池正負極方向正確無誤后設定。 （2）探頭的選擇和設定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定對象，在本體上進行設定。 測定方法 （1）探頭的選擇和安裝方法：確認電源處于OFF狀態，與測定對象的質地材質接觸，安裝LEP-J或LHP-J。 （2）調整：確認測定對
加大行程膜厚儀
鑒于客戶有些需要測金屬厚度外型又比較大的產品，我司可為客戶量身訂做加大其行程，以方便客戶使用。比如外長高于450mm的產品，可以加大載物板來放置被測的樣板。我司已為客戶配置好了電腦，打印機，U盤，鼠標墊等，收到大行程膜厚儀儀器，只需培訓操作使用即可。
膜厚儀測厚儀新動態
首先感謝新老客戶長期以來對本公司的支持與厚愛，使雙方建立了良好的合作平臺，對我公司的業務發展起到了積極的作用！接美國博曼儀器通知，因受原材料和零配件漲價，從2022年1月1日起博曼儀器產品，價格在原基礎上調10%。關于此次調價，希望大家能理解和支持，我們也將不斷完善和提高，以更優質的服務全力回報廣大
Thetametrisis膜厚儀的優勢
FR-Mic膜厚儀是一款快 速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。它可以配備一臺專用計算機控 制的XY工作臺，使其快 速、方便和準確地描繪樣品的厚度和光學特性圖。Thetametrisis膜厚儀利用 FR-Mic，通過紫外/ 可見
膜厚測試儀簡介
膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。 臺式的熒光X射線膜厚測試儀，是通過一次X射線穿透
膜厚儀的操作步驟
膜厚儀的操作步驟測定準備（1）確保電池正負方向正確無誤后設定。（2）探頭的選擇和設定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定對象，在本體上進行設定。測定方法（1）探頭的選擇和安裝方法：確認電源處于OFF狀態，與測定對象的質地材質接觸，安裝LEP-J或LHP-J。（2）調整：確認測定對象已經被調
膜厚儀的使用步驟
膜厚儀的使用步驟測定準備（1）確保電池正負極方向正確無誤后設定。（2）探頭的選擇和設定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定對象，在本體上進行設定。測定方法（1）探頭的選擇和安裝方法：確認電源處于OFF狀態，與測定對象的質地材質接觸，安裝LEP-J或LHP-J。（2）調整：確認測定對象已經被
光學表面輪廓儀相關內容
光學表面輪廓儀是一種用于材料科學、電子與通信技術領域的分析儀器，于2009年11月27日啟用。 技術指標 1. 垂直測量范圍：0.1nm 至 1mm2. 垂直分辨率：
采用光學輪廓儀有哪些優勢
光學輪廓儀一款用于對各種精密器件表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌的3D測量的
光學輪廓儀的使用方法介紹
輪廓儀不僅僅是用于零部件的檢測,還有一種可用于生產線上對生產中的軋材表面缺陷進行檢測的設備,它以激光檢測原理完成了缺陷尺寸的在線檢測。 一臺輪廓測量儀具備四只二維激光測量傳感器,每只二維激光傳感器負責檢測一個方位的輪廓情況,四只傳感器完全可以滿足軋材的同一截面的輪廓檢測,這樣隨著被測軋材的行進
膜厚儀的選購小技巧
膜厚儀的選購小技巧1、塑料上的銅、鉻層:建議用庫侖法測厚儀(會破壞鍍層)或X射線測厚儀，如銅層在10m~200m可考慮電渦流法測厚儀。2、金屬件上鍍鋅層:如在鋼鐵基體上應使用經濟的磁感應法測厚儀。其它金屬基體用庫侖法測厚儀或X射線測厚儀。3、鐵基體上的電泳漆，油漆應使用經濟的磁感應法測厚儀(無損測量
膜厚儀的使用方法
膜厚儀的使用方法膜厚儀又名膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理是，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。膜厚儀的使用方法?測定準備（1
三維光學輪廓儀的使用原理
三維光學輪廓儀采用白光軸向色差原理（性能優于白光干涉輪廓儀與激光干涉輪廓儀）對樣品表面進行快速、重復性高、高分辨率的三維測量，測量范圍可從納米級粗糙度到毫米級的表面形貌，臺階高度，給MEMS、半導體材料、太陽能電池、醫療工程、制藥、生物材料，光學元件、陶瓷和先進材料的研發和生產提供了一個精確的、價格
淺析光學輪廓儀的主要功能
光學輪廓儀對各種產品，部件和材料的表面輪廓，粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析的精密儀器。 光學輪廓儀的主要功能： 共聚焦 共聚焦技術可以用來測量各類樣品表面的形貌。它比光學顯微鏡有更高
光學輪廓儀信號進行持續的自校準
光學輪廓儀信號進行持續的自校準 Wyko NT9800 在0.1nm 到 10mm 的垂直掃描范圍內提供了非接觸式高速高精度三維表面測量工能，縱向分辨率可達0.1nm。NT9800采用了Veeco的內部實時激光參考信號進行持續的自校準，減小了通常情況下使用標準塊校準設備的需要，并且能夠補償工
膜厚測定儀的功能介紹
中文名稱膜厚測定儀英文名稱film thickness measuring device定 義測量光學膜層厚度的儀器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學測試儀器（三級學科）
膜厚儀的磁感應測量原理
采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基
膜厚測定儀的功能介紹
中文名稱膜厚測定儀英文名稱film thickness measuring device定 義測量光學膜層厚度的儀器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學測試儀器（三級學科）
寧波膜厚儀電渦流測量原理
寧波膜厚儀采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通膜厚儀膜厚儀的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。寧波膜厚儀電
涂層測厚儀－兩用膜厚儀
涂層測厚儀 兩用膜厚儀?型號：TC81-IITC81-II涂層測厚儀是具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。其技術參數完全符合標準。本儀器是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、
簡介膜厚儀電渦流測量原理
高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高
淺談膜厚儀與測厚儀的差別
作為一種非接觸式的儀器，膜厚儀在整個使用過程中完全不用擔心會對產品造成損壞，也完全不用擔心會對人體造成輻射。該儀器擁有非常廣泛的應用范圍，已經成為了目前市場頗受廠家青睞的儀器。不過，與測厚儀相比，它又有什么不同呢?我們一起來看看下面的介紹吧。1、從屬關系從字面上看，很多人會認為膜厚儀與測厚儀是一種儀
X光膜厚測試儀原理
X射線鍍層測厚儀/X光鍍層測厚儀檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...可測單層,雙層,多層,合金鍍層,測量范圍:0.04-35um測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度全自動臺面,自動雷射對焦,操作非常方便簡單●?X射線鍍層測厚儀的測量原理物質
NANOMETRICS－膜厚測試儀共享應用
儀器名稱：膜厚測試儀儀器編號：06004277產地：美國生產廠家：NANOMETRICS, INC.型號：N7007-0001 REV.2出廠日期：200212購置日期：200605所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>測試與分析放置地點：微電子所新所一層光刻間固定電話：固定手機：固定email：聯