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<p> X射線熒光光譜儀對礦石領域的金屬元素分析有著豐富的經驗及完整的配套方案，下面分享通過日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖的元素分析。</p><p> 俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖，是由石英，斜長石，云母，角閃石等構成的礦物質。在此介紹如何使用ZSX新功能---CCD相機和樣品臺驅動裝置組合，對花崗巖進行CCD元素分布分析。CCD元素分布分析是利用儀器內置的CCD相機對直接觀察樣品表面，指定任意位置進行的元素分析。</p><p> 實驗操作部分</p><p> 一、儀器</p><p> ZSX系列波長色散X射線熒光光譜儀（日本理學）</p><p> 二、樣品制備</p><p> 將樣品按樣品架大小切割，打磨表面去除雜質。放入專用樣品架內備用。</p>......閱讀全文
X射線熒光光譜儀對礦石領域的金屬元素分析有著豐富的經驗及完整的配套方案，下面分享通過日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖的元素分析。 俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖，是由石英，斜長石，云母，角閃石等構成的礦物質。在此介紹如何使用ZSX新功能---CCD相機和樣品臺驅動裝置組合，對花崗
X射線熒光光譜儀對礦石領域的金屬元素分析有著豐富的經驗及完整的配套方案，下面分享通過日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖的元素分析。 俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖，是由石英，斜長石，云母，角閃石等構成的礦物質。在此介紹如何使用ZSX新功能---CCD相機和樣品臺驅動裝置組合，對花崗
<p> X射線熒光光譜儀對礦石領域的金屬元素分析有著豐富的經驗及完整的配套方案，下面分享通過日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖的元素分析。</p><p> 俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖，是由石英，斜長石，云母，角閃石等構成的礦物質。在此介紹如何使用ZS
低原子序數性能、Mapping分析和多點分析 提供的性能和靈活性用來分析復雜樣品，結合了較為先進的Mapping分析包來檢測均質性和夾雜物，ZSX Primus中具有一個30μm的X射線管（工業中薄端窗的X射線管），用于特殊輕元素（低原子序數）檢出限。ZSX Primus簡單地提供了其他分
我國學者對不同時期WDXRF的進展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結構來看，依然是建立在布拉格定律基礎之上，但儀器面目全新。縱觀30年來的發展軌跡，可總結出如下特點 。(1) 現代控制技術的應用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中，從20世紀80年代起，一些機械部件為電子線路所取代，
波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上的所有化學元素，分析精度高，樣品制備簡單。
理學波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上的所有化學元素，分析精度高，樣品制備簡單。應用領域
它的工作原理是：試樣受X射線照射后，元素的原子內殼層電子被激發，并產生殼層電子躍遷而發射出該元素的特征X射線，通過探測器測量元素特征X射線的波長（能量）的強度與濃度的比例關系，便可進行定量分析 波長色散X射線熒光光譜儀的特點是什么呢？ 1.可用于固體、
X射線熒光光譜儀根據分光方式不同，可分為波長色散和能量色散X射線熒光光譜儀兩大類；根據激發方式又可細分為偏振光、同位素源、同步輻射和粒子激發X射線熒光光譜儀；根據X射線的出射、入角還可有全反射、掠出入射X射線熒光光譜儀等。波長色散XRF光譜儀利用分光晶體的衍射來分離樣品中的多色輻射，能量色散光譜儀則
波長色散X射線熒光光譜儀的優點闡述波長色散X射線熒光光譜儀，采用了新技術設計的固態發生器、新技術設計的高電流低溫X射線光管、當前電子技術新設計的電路板、新開發的高強度晶體等，使X射線熒光光譜儀對元素的分析產生了突破，在靈敏度、準確度、精密度、安全性、操作簡便性、可靠性、分析速度、功能完備的分析軟件等