離子探針分析儀器組成
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。① 一次離子發射系統一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、氖、氬等），使氣體分子電離，產生一次離子。在電壓作用下，離子從離子槍內射出，再經過幾個電磁透鏡使離子束聚焦，照射在樣品表面上激發二次離子。用一個電壓約為1KV的引出電極將二次離子引入質譜儀。② 質譜儀質譜儀由扇形電場和扇形磁場組成。二次離子首先進入一個扇形電場，稱為靜電分析器。在電場內，離子沿半徑為r的圓形軌道運動，由電場產生的力等于向心力。運動軌道半徑r等于mv2/eE，與離子的能量成正比。所以扇形電場能使能量相同的離子作相同程度的偏轉。由電場偏轉后的二次離子再進入扇形磁場（磁分析器）進行第二次聚焦。由磁通產生的洛侖茲力等于向心力。不同質荷比的......閱讀全文
離子探針分析儀器組成
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。① 一次離子發射系統一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、氖、氬等），
離子探針分析儀儀器組成
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。① 一次離子發射系統一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、氖、氬等），
離子探針分析儀的組成結構介紹
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。 ① 一次離子發射系統 一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、
離子探針原理
離子探針(IMA)的基本原理是，用高能負氧離子轟擊樣品表面，測定被飛濺活化出來并發生電離的原子（即離子）的同位素組成，以獲得年齡。為一種得到迅猛發展的新型質譜計，它具有許多其他測年方法所沒有的優點：不需要化學處理；具有高的分辨率，可同時獲得幾組年齡以確定被測對象同位素體系是否封閉，有無鉛丟失；可對樣
離子探針方法
離子探針方法是將質譜測定技術與離子發射顯微鏡技術相結合的現代儀器分析方法。能提供一般質譜分析所不能提供的試樣微區質譜。由于它能對固體物質作微區、微量及深度成分分析，在某些條件下檢測靈敏度可達ppb數量級，因此被廣泛地應用于半導體、冶金、地質和生物研究等部門。其原理是利用聚焦的高能一次離子束轟擊試樣表
鈣離子熒光探針：比值型熒光探針
前面我們介紹了熒光指示劑法可以將Ca2+檢測的實驗與其他技術結合使用，如可以與流式細胞儀、熒光分光光度計、或者熒光顯微鏡進行聯合檢測 。紫外光型主要包括Quin-2、Indo-1、Fura-2等，數量較少，可見光型數目較多，包括Fluo-3、鈣黃綠素、Rhod-2等。熒光指示劑根據測光原理和數據
北京離子探針中心離子探針質譜儀器研發進入攻堅階段
2010年1月16-17日，由北京離子探針中心主辦的“2009北京SHRIMP成果報告會”在京隆重舉行。中國科學院多位院士、政府相關部門負責人以及來自全國各地的地學界同仁等約100人出席了開幕式。自2002年起，一年一度的“北京SHRIMP成果交流會”已經成為中國地學界同仁們進行學術交
探針臺由哪些部分組成？
樣品臺（載物臺）：是定位晶圓或芯片的部件設備。通常會根據晶圓的尺寸來設計大小，并配套了相應的精密移動定位功能。 光學元件：這個部件的作用使得用戶能夠從視覺上放大觀察待測物，以便精確地將探針尖端對準并放置在待測晶圓/芯片的測量點上。有的采用立體變焦顯微鏡，有的采用數碼相機，或者兩者兼有。 探針
實驗室分析儀器質譜儀器的組成離子源
離子源在離子源中樣品被電離成離子。不同性質的樣品可能需要不同的電離方式。近年來，生物大分子的分析對質譜的電離方式提出了更高的要求，新的離子源不斷出現。如電子轟擊離子化(EI)、化學離子化(CI)、激光解吸離子化(LDI)、基質輔助激光解吸/離子化(MALDI)、大氣壓離子化(API)、電噴霧離子化(
無機離子的組成
生命體系中大量存在的無機離子的靜電荷，使水分子圍繞其周圍徑向排列，形成有序的離子水化層。有序度隨距離增大而減弱,小的離子則可能嵌入水結構晶格的孔隙中。不同種類的離子對水結構的影響不同。“結構溫度”──與25℃下該離子溶液中水的結構程度相同的純水的溫度──用來描述這種區別。降低結構溫度（使水的結
離子探針分析儀簡介
離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細小的高能離子束轟擊樣品表面，使之激發和濺射二次離子，經過加速和質譜分析，分析區域可
離子探針分析儀特點
離子探針分析儀有以下幾個特點：1. 由于離子束在固體表面的穿透深度（幾個原子層的深度）比電子束淺，可對這樣的極薄表層進行成份分析。2. 可分析包括氫、鋰元素在內的輕元素，特別是氫元素，這種功能是其它儀器不具備的。3. 可探測痕量元素（～50×10-9，電子探針的極限為～0.01%）。4. 可作同位素
離子探針分析儀應用
離子探針分析儀應用由于SISM的特點，目前可以應用于下列五個方面的分析研究：1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同
離子探針分析儀應用
目前可以應用于下列五個方面的分析研究：1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同位素的深度濃度 分布最有效的表面分析工
四探針測試儀原理和組成
?多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量?儀器。該儀器設計符合GB/T?1551-2009?《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T?1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、?GB/T?1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國?
同位素質譜儀和離子探針
同位素質譜儀 同位素質譜分析法的特點是測試速度快，結果精確，樣品用量少（微克量級）。能精確測定元素的同位素比值。廣泛用于核科學，地質年代測定，同位素稀釋質譜分析，同位素示蹤分析。 離子探針 離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m
鈣離子熒光探針類型大盤點
鈣離子在許多生理過程中起著復雜的作用。例如，細胞內鈣離子在促進神經元從神經元中釋放神經遞質的信號轉導途徑中必不可少，并參與所有肌肉細胞收縮所需的機制。細胞離子濃度受被動和主動離子通道和泵的調節。離子通道和泵的故障可能導致離子濃度調節不當，從而產生不利于正常細胞功能的不利條件。鈣離子濃度研究領域中常使
鋅離子熒光染料探針的應用
鋅離子在許多生理和病理過程中都起到至關重要的作用,因此對鋅離子進行探測和識別有重要理論和實際意義。熒光探針因其設計簡單、易于操作、靈敏度高、可細胞成像等諸多優點而廣泛應用于鋅離子的識別研究。鋅是生物中含量第二高的過渡金屬（僅次于鐵), 大腦中大多數Zn?2+緊密結合，因此細胞外和細胞內的游離Zn?2
關于離子探針的基本信息介紹
離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m/e）分開，可獲得材料微區質譜圖譜及離子圖像，再通過分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質譜儀的特點。可以探測電子探針顯微分析方法檢測
離子探針質量顯微分析儀
離子探針質量顯微分析儀ion microprobe mass analyzer以聚焦很細(1～2微米)的高能(10～20千電子伏)一次離子束作為激發源照射樣品表面，使其濺射出二次離子并引入質量分析器，按照質量與電荷之比進行質譜分析的高靈敏度微區成分分析儀器，簡稱離子探針。簡史 應用離子照射樣品產生二
我國引進首臺納米離子探針通過驗收
我國引進的第一臺NanoSIMS 50L型納米離子探針驗收會于近日在中國科學院地質于地球物理研究所召開。中國科學院地質于地球物理研究所副所長吳福元研究員為組長的專家組認真聽取了法國CAMECA公司納米離子探針設計師、Fran?ois Hillion博士所作的驗收報告。專家組對儀器
離子探針是怎么進行運作的？
電離電極（離子探針）：多用于燃氣燃燒器上。程控器給電離電極供電，如果沒有火焰，電極上的供電將停止，如果有火焰，燃氣被其自身的高溫電離，離子電流在電極、火焰和燃燒頭之間流動，離子電流被整流成直流，并通過接地的燃燒器外殼到達火焰繼電器使之工作，以保證燃燒器后序工作順利進行。如果電離電極發生接地現象，那么
離子探針分析儀的應用概述
由于SISM的特點，目前可以應用于下列五個方面的分析研究： 1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。 2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同位素的
離子交換樹脂基體組成
離子交換樹脂的基體主要有苯乙烯和丙烯酸（酯）兩大類，它們分別與交聯劑二乙烯苯產生聚合反應，形成具有長分子主鏈及交聯橫鏈的網絡骨架結構的聚合物。苯乙烯系樹脂是先使用的，丙烯酸系樹脂則用得較后。 這兩類樹脂的吸附性能都很好，但有不同特點。丙烯酸系樹脂能交換吸附大多數離子型色素，脫色容量大，而且吸附
絡離子的概念和組成
絡離子由一定數量的配體（陰離子或分子）通過配位鍵結合于中心離子（或中性原子）周圍而形成的跟原來組分性質不同的分子或離子，叫做絡合物。配位化合物簡稱絡合物（絡合物）。[Cu(NH3)4]SO4、[Pt(NH3)2]Cl2、K4[Fe(CN)6]等都是絡合物。現以[Cu(NH3)4]SO4為例說明絡合物
實驗分析儀器電感耦合等離子體發射光譜儀的組成、應用
電感耦合等離子體發射光譜儀應用很廣，在農業、天文、汽車、生物、化學、鍍膜、色度計量、環境檢測、薄膜工業、食品、印刷、造紙、拉曼光譜、半導體工業、成分檢測、顏色混合及匹配、生物醫學應用、熒光測量、寶石成分檢測、氧濃度傳感器、真空室鍍膜過程監控、薄膜厚度測量、LED測量、發射光譜測量、紫外/可見吸收光譜
北京離子探針中心儀器共享結碩果
本報訊 北京離子探針中心近日被科技部和財政部正式認定為首批國家級科技基礎條件平臺之一。10年來，該中心兩臺高分辨二次離子探針質譜儀平均每年運行266.8晝夜，對外開放機時比例達76%；自2007年起，單臺儀器科研論文產出量已連續位居世界同類儀器的第一位。 高分辨二次離子探針質譜儀（英文
請問離子探針分析儀有哪些特點？
SISM有以下幾個特點： 1. 由于離子束在固體表面的穿透深度（幾個原子層的深度）比電子束淺，可對這樣的極薄表層進行成份分析。 2. 可分析包括氫、鋰元素在內的輕元素，特別是氫元素，這種功能是其它儀器不具備的。 3. 可探測痕量元素（～50×10-9，電子探針的極限為～0.01%）。 4
DPiMS2020原位探針離子化質譜儀
島津液質聯用儀, DPiMS-2020 是一種基于探針電噴霧電離的單極質譜儀。它使用探針從樣品板上放置的樣品中取出微量的液體, 并將其注入 MS 單元進行質量分析。 它是非常容易操作和它能測量樣品例如化工產品、食物材料和生物樣品, 直接地或以非常極小的樣品預處理。
離子探針產品介紹、特點和應用領域
離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m/e）分開，可獲得材料微區質譜圖譜及離子圖像，再通過分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質譜儀的特點。可以探測電子探針顯微分析方法檢測極限