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一、原子力顯微鏡的概述 原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括導體、半導體和絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它的橫向分辨率可達0.15m，而縱向分辨率可達0.05m，AFM最大的特點是可以測量表面原子之間的力，AFM可測量的最小力的量級為10-14 -10-16 N。AFM還可以測量表面的彈性，塑性、硬度、黏著力等性質 ，AFM還可以在真空，大氣或溶液下工作，也具有儀器結構簡單的特點，在材料研究中獲得了廣泛的研究。 它與其他顯微鏡相比有明顯不同，它用一個微小的探針來”摸索”微觀世界，AFM超越了光和電子波長對顯微鏡分辨率的限制，在立體三維上觀察物質的形貌，并能獲得探與樣品相互作用的信息，典型AFM的側向分辨率（x，y）可達到2nm，垂直分辯牢（方間）小于0。1mmAFM具有操作客易、樣品準備簡單、操作環境不受限制、分辨率高等優點。 二、原子力顯微......閱讀全文
一、原子力顯微鏡的概述 原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括導體、半導體和絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它的橫向分辨率可達0.15m，而縱向分辨率可達0.05m，AFM最大的特點是可以測量表面原子之間的力，AFM可測量的最小
很多朋友可能已經等不及要一睹原子力顯微鏡的真面目吧？圖4展示的就是一臺很常見的原子力顯微鏡。也許有的朋友看過之后會失望：如此精密先進的儀器卻是“其貌不揚”！不過千萬不要小瞧它的威力。讓我們來看看原子力顯微鏡“看”到的玻璃表面是什么樣子（圖5）。這里要解釋一下，圖中的顏色并非玻璃表面真實的顏色，而是任
原子力顯微鏡利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發明的，其目的是為了使非導體也可
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM)是在1986年由掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Mi-croscope,STM)的發明者之一的Gerd Binnig博士在美國斯坦福大學與Quate C F和Gerber C等人研制成功的一種新型的顯微鏡[1
原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱AFM）是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互
原子力顯微鏡用到的物理知識：原子力顯微鏡，一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監控其運動的反饋回路、使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法
原子力顯微鏡的另一個主要應用(除了成像)是力譜，它直接測量作為尖端和樣品之間間隙函數的尖端-樣品相互作用力(測量的結果稱為力-距離曲線)。對于這種方法，當懸臂的偏轉被監測為壓電位移的函數時，原子力顯微鏡的尖端向表面伸出或從表面縮回。這些測量已被用于測量納米接觸、原子鍵合、范德華力和卡西米爾力、液
原子力顯微鏡(atomic force microscope, AFM)是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。1981年，STM（scanning tunneling microscopy, 掃描隧道顯微鏡）由IBM-Zuric
原子力顯微鏡探針、原子力顯微鏡及探針的制備方法。原子力顯微鏡探針包括探針本體和設置在探針本體的針尖一側的接觸體，接觸體具有連接段和接觸段，接觸段具有接觸端面；接觸段為二維材料，且接觸端面為原子級光滑且平整的單晶界面。本發明專利技術的原子力顯微鏡探針可精確地檢測受測樣品的各種性質。介紹隨著微米納米科學
原子力顯微鏡是顯微鏡中的一種類型，應用范圍十分廣泛。原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器，很多人對原子力顯微鏡原理不太了解，下面小編就為大家介紹一下原子力顯微鏡原理、工作模式及應用領域。 原子