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X射線X射線(Xray)是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，由德國物理學家W.K.倫琴于1895年發現，故又稱倫琴射線。其特性通常用能量(keV)或波長(nm)描述。λ(nm)=1.24E(keV)X射線是原子內層電子在高速運動電子的沖擊下產生躍遷而發射的光輻射，其波長很短約介于0.001~25nm之間。由于X射線屬于電磁波，所以能產生反射、折射、散射、干涉、衍射、偏振和吸收等現象。X射線光譜法常用波長在0.01—22.8nm(LiKα)。韌致輻射軔致輻射(BrehmstrahlungRadiation)或稱連續輻射(ContinuumRadiation)，是由于電子撞擊在X射線管的陽極上被減速而在光譜中出現的噪聲。由于來自樣品到探測器的X射線的后向散射而產生的非常寬的峰，可能出現在所有XRF光譜中。峰值處的能量為X射線管所加電壓的2/3。在較低密度樣品散射的XRF譜中更突出，因為更多的X射線源光子回到探測器。X射線熒光X......閱讀全文
X射線X射線(Xray)是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，由德國物理學家W.K.倫琴于1895年發現，故又稱倫琴射線。其特性通常用能量(keV)或波長(nm)描述。λ(nm)=1.24E(keV)X射線是原子內層電子在高速運動電子的沖擊下產生躍遷而發射的光輻射，其波長很短約介于0.001~2
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
X射線熒光光譜儀優點：1)可在一臺儀器上可實現掃描式X射線波長色散分析、X射線能量色散分析、X-射線聚焦微小區域分析、游離氧化鈣X射線衍射分析。2)波長色散通道（波譜核）和能量色散通道（能譜核）可同時分別得到Be- Am 和Na-Am 所有元素的光譜數據和定量分析結果。
該系統由X射線發生器、光譜儀主體部分、電氣部分及系統控制器、計算機部分組成。3.1 X射線發生器 X射線發生器由高壓變壓器及管流管壓控制單元、X射線管、熱交換器。 3.1.1高壓變壓器及管流管壓控制單元 產生高穩定的高壓加到X射線管上用以產生X射線。這里利用高電壓加速的高速電子轟
原理：用一束X射線或低能光線照射樣品材料，致使樣品發射二次特征X射線，也叫X射線熒光。這些X射線熒光的能量或波長是特征的，樣品中元素的濃度直接決定射線的強度。從而根據特征能量線鑒別元素的種類，根據譜線強度來進行定量分析。XRF有波長散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)兩種，前者測量精密度好
X射線熒光光譜儀原理 X射線熒光光譜儀主要由激發源（X射線管）和探測系統構成。其原理就是：X射線管通過產生入射X射線（一次X射線），來激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放
自1895年倫琴發現X射線以來，X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中，1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎；20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段；60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅
2.1 X射線熒光的物理原理 X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位nm）描述。 X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子（如
我國學者對不同時期WDXRF的進展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結構來看，依然是建立在布拉格定律基礎之上，但儀器面目全新。縱觀30年來的發展軌跡，可總結出如下特點 。(1) 現代控制技術的應用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中，從20世紀80年代起，一些機械部件為電子線路所取代，
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接