1. cantilever based probe
用于原子力顯微鏡（AFM）。由于原子間作用力無法直接測量，AFM使用的探針是一個附著在有彈性的懸臂上的小針尖，懸臂另一面可以反射激光。
隨著針尖移動，針尖和樣品表面的作用力使得懸臂發生細微的彎曲變化，導致激光反射路徑的變化，從而獲得樣品表面形貌。
2. conducting probe
用于掃描隧道顯微鏡（STM）。因為反饋信號是隧道電流，要求針尖和樣品都必須導電，所以STM常用的探針都是金屬(Au, W, Pt, Pt-lr合金之類的)。而電流可以被直接和精確的檢測，所以一般一根金屬絲就能滿足需求了。