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  • 發布時間:2020-09-29 13:01 原文鏈接: 電路板的大氣污染物典型腐蝕分析及防護(二)

    典型腐蝕與防護

    電路板典型腐蝕失效

    電路板上會用到多種物料,物料的選型對于腐蝕反應的發生有重要影響。以工程實際中遇到的厚膜電阻硫化、SMD LED兩種典型硫化失效和印制板銅腐蝕為例,比較不同器件封裝結構和材料選擇對電路板抗腐蝕能力的影響。

    1)厚膜貼片電阻硫化腐蝕。厚膜電阻的面電極含有銀元素,銀元素暴露在空氣中極易與硫發生化學反應。如果外部保護層和電鍍層沒有緊密結合,則面電極會與空氣中的硫接觸。當空氣中含有大量含硫化合物時,銀與硫化物反應生成硫化銀,由于硫化銀不導電,且體積比銀大,在化合后,體積膨脹,導致原先銀層的斷層,電阻值逐漸增大,直至斷路。為了防止厚膜電阻硫化,可選用抗硫化能力強的電阻。在面電極上涂覆保護層,通過導入不含Ag、且具有導電性的硫化保護層,從而保護上面電極,徹底杜絕硫化的通路。典型抗硫化電阻封裝結構如圖1所示。通過1年的對比應用試驗表明,電阻硫化失效率大大降低,新封裝結構的厚膜電阻具有良好的抗硫化作用。

    圖1 帶抗硫化涂層的貼片電阻結構

    2)硅膠封裝LED硫化腐蝕失效。典型的貼片封裝LED結構如圖2所示,其中與金線相連的一般為鍍銀支架,灌封材料則通常根據廠商而異。實際應用中,在含硫量較高的地區使用硅膠封裝LED,被硫化的風險很高。如圖3所示,硅膠封裝的LED內部支架已經發黑,經過測試,無法點亮。將失效硅膠封裝LED機械開封后,在金相顯微鏡下觀察到內部鍵合點和支架的形貌如圖4和圖5所示。支架出現嚴重發黑,甚至露出基底銅層的顏色,外部鍵合點已脫落,芯片位置的銀膠發黑嚴重。選取LED支架區域的兩個位置進行EDS能譜分析,如圖6所示。在支架區域分別檢測到了質量分數為13.02%和5.38%的硫元素。

    圖2 貼片LED結構

    圖3 被硫化的硅膠封裝LED

    圖4 金相顯微鏡下的被硫化的硅膠封裝LED開封圖片

    圖5 LED支架區域SEM圖像

    圖 6EDS分析結果


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