X射線熒光光譜法優點
X射線熒光光譜法-----原級X射線發射光譜法首先,與原級X射線發射光譜法比,不存在連續X射線光譜,以散射線為主構成的本底強度小,譜峰與本底的對比度和分析靈敏度顯著提高,操作簡便,適合于多種類型的固態和液態物質的測定,并易于實現分析過程的自動化。樣品在激發過程中不受破壞,強度測量的再現性好,以及便于進行無損分析等。其次,與原子發射光譜法相比,除輕元素外,特征(標識)X射線光譜基本上不受化學鍵的影響,定量分析中的基體吸收和增強效應較易校正或克服,譜線簡單,互相干擾比較少,且易校正或排除。X 射線熒光光譜法可用于冶金、地質、化工、機械、石油、建材等工業部門,以及物理、化學、生物、地學、環境科學、考古學等。還可用于測定涂層和金屬薄膜的厚度和組成以及動態分析等。在常規分析和某些特殊分析方面,包括工業上的開環單機控制和閉環聯機控制,本法均能發揮重大作用。分析范圍包括原子序數Z≥3(鋰)的所有元素,常規分析一般用于Z≥9(氟)的元素。分析靈......閱讀全文
X射線熒光光譜法優點
X射線熒光光譜法-----原級X射線發射光譜法首先,與原級X射線發射光譜法比,不存在連續X射線光譜,以散射線為主構成的本底強度小,譜峰與本底的對比度和分析靈敏度顯著提高,操作簡便,適合于多種類型的固態和液態物質的測定,并易于實現分析過程的自動化。樣品在激發過程中不受破壞,強度測量的再現性好,以及便于
X射線熒光光譜法優點
X射線熒光光譜法-----原級X射線發射光譜法首先,與原級X射線發射光譜法比,不存在連續X射線光譜,以散射線為主構成的本底強度小,譜峰與本底的對比度和分析靈敏度顯著提高,操作簡便,適合于多種類型的固態和液態物質的測定,并易于實現分析過程的自動化。樣品在激發過程中不受破壞,強度測量的再現性好,以及便于
X射線熒光光譜法的優點
X射線熒光光譜法-----原級X射線發射光譜法 首先,與原級X射線發射光譜法比,不存在連續X射線光譜,以散射線為主構成的本底強度小,譜峰與本底的對比度和分析靈敏度顯著提高,操作簡便,適合于多種類型的固態和液態物質的測定,并易于實現分析過程的自動化。樣品在激發過程中不受破壞,強度測量的再現性好,
X射線熒光光譜法的優點有哪些?
與原級X射線發射光譜法比,不存在連續X射線光譜,以散射線為主構成的本底強度小,譜峰與本底的對比度和分析靈敏度顯著提高,操作簡便,適合于多種類型的固態和液態物質的測定,并易于實現分析過程的自動化。樣品在激發過程中不受破壞,強度測量的再現性好,以及便于進行無損分析等。其次,與原子發射光譜法相比,除輕
X射線熒光光譜法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶劑,將鎢精礦粉和純WO3作高倍稀釋熔融制成玻璃片,按WLα分析線X射線熒光光譜儀測定其強度值,換算成相對強度即可得出試樣中三氧化鎢的含量。此法適用于鎢精礦中w(WO3)為0.5%~80%的試樣。儀器波長色散X射線熒光光譜儀器儀,銠靶X光管(≥3kW)。高溫熔
X射線熒光光譜法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶劑,將鎢精礦粉和純WO3作高倍稀釋熔融制成玻璃片,按WLα分析線X射線熒光光譜儀測定其強度值,換算成相對強度即可得出試樣中三氧化鎢的含量。此法適用于鎢精礦中w(WO3)為0.5%~80%的試樣。儀器波長色散X射線熒光光譜儀器儀,銠靶X光管(≥3kW)。高溫熔
X射線熒光光譜儀優點
X射線熒光光譜儀優點:1)可在一臺儀器上可實現掃描式X射線波長色散分析、X射線能量色散分析、X-射線聚焦微小區域分析、游離氧化鈣X射線衍射分析。2)波長色散通道(波譜核)和能量色散通道(能譜核)可同時分別得到Be-?Am?和Na-Am?所有元素的光譜數據和定量分析結果。3)軟件可以得到上述各種分析技
X射線熒光分析儀的優點
對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測,而不毀壞樣品。 測試速率高,可以在較少時間內進行大量樣品測試,分析結果可以通過計算機直接連網輸出。 分析速度較快。 對于純金屬可采用無標樣分析,精度能達分析要求。 不需要專業實驗室與操作人員,不引入其它對環境有害的物質。
X射線熒光分析儀的優點
對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測,而不毀壞樣品。 測試速率高,可以在較少時間內進行大量樣品測試,分析結果可以通過計算機直接連網輸出。 分析速度較快。 對于純金屬可采用無標樣分析,精度能達分析要求。 不需要專業實驗室與操作人員,不引入其它對環境有害的物質。
X射線熒光儀器的技術優點介紹
利用XRF,元素周期表中絕大部分元素均可測量。作為一種分析手段,XRF具有其優越的地方:分析速度快、非破壞分析、分析精密度高、制樣簡單等。波長色散和能量色散XRF光譜儀對元素的檢測范圍為10-5%~100%,對水樣的分析可達10-9數量級;全反射XRF的檢測限已達到10-9~10-12g。同時也
X射線熒光分析方法的優點介紹
①分析的元素范圍廣,除少數輕元素外,周期表中幾乎其他所有的元素都能進行分析。隨著儀器的改進,分析元素已經擴展到F,O,C等輕元素。 ②熒光X射線譜簡單,譜線干擾少,對于化學性質極其相似的元素,如稀土、鋯鉿、鉑系等,不需經過復雜的分離,就能成功地完成分析工作。 ③分析的濃度范圍較寬,從常量組分
X射線熒光光譜法的簡介
X射線熒光光譜法正是基于以上物理學原理而產生的,從X射線管產生X射線,X射線經過濾或單色化處理入射樣品,入射樣品X射線與物質相互作用,產生的元素特征X射線熒光,進入探測器記錄其強度,能量色散型探測器的各種效應。都有可以遵循的X射線熒光的物理學理論,而這些明確的物理學理論,有大量的規律可循,進而可
X射線熒光光譜法的展望
X射線熒光光譜法 X射線熒光光譜法同其他分析技術一樣,不是完美無缺的。在物質成分分析中,它對一些最輕元素(Z≤8)的測定還不完全成熟,只能是屬于初期應用的階段。常規分析中某些元素的測定靈敏度不如原子發射光譜法高(采用同步輻射和質子激發的 X射線熒光分析除外),根據各個工業部門生產自動化的要求(
X射線熒光光譜法的定義
X射線熒光光譜法是照射原子核的X射線能量與原子核的內層電子的能量在同一數量級時,核的內層電子共振吸收射線的輻射能量后發生躍遷,而在內層電子軌道上留下一個空穴,處于高能態的外層電子跳回低能態的空穴,將過剩的能量以X射線的形式放出,所產生的X射線即為代表各元素特征的X射線熒光譜線。其能量等于原子內殼層電
X射線熒光光譜法的應用
質成分分析 ①定性和半定量分析具有譜線簡單、不破壞樣品、基體的吸收和增強效應較易克服、操作簡便、測定迅速等優點,較適合于作野外和現場分析,而且一般使用便攜式X射線熒光分析儀,即可達到目的。如在室內使用X射線能譜儀,則可一次在熒光屏上顯示出全譜,對物質的主次成分一目了然,有其獨到之處。 ② 定量
X射線熒光光譜法的分析
X射線熒光光譜法---能量色散 利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子,使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同,分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。 當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發
X射線熒光光譜法的熒光產額介紹
當一束能量足夠大的X射線光子與一種物質的原子相互作用時,逐出一個軌道電子而出現一個空穴,所產生的的空穴并非均能產生特征X射線,還會產生俄歇電子。產生特征X射線躍遷的概率就是熒光產額,俄歇躍遷的概率成俄歇產額。
X射線熒光光譜法痕量元素測定
在物質成分的分析方面主要包括克服基體效應的基礎研究和擴大分析應用范圍兩方面。現在,基體效應的數學校正法正在通過校正模型的更深入研究和計算機軟件的進一步開發,向更高水平的方向發展。而且,隨著制樣技術的逐步自動化,各種物理化學前處理方法的改進,對于擴大分析含量范圍,包括進一步開展痕量元素測定等工作,
X射線熒光光譜法的詳細介紹
利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子,使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同,分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。 當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位,原子
X射線熒光光譜法的未來展望
X射線熒光光譜法同其他分析技術一樣,不是完美無缺的。在物質成分分析中,它對一些最輕元素(Z≤8)的測定還不完全成熟,只能是屬于初期應用的階段。常規分析中某些元素的測定靈敏度不如原子發射光譜法高(采用同步輻射和質子激發的 X射線熒光分析除外),根據各個工業部門生產自動化的要求(例如選礦流程中的自動
X射線熒光光譜法基本信息介紹
X射線熒光光譜法是照射原子核的X射線能量與原子核的內層電子的能量在同一數量級時,核的內層電子共振吸收射線的輻射能量后發生躍遷,而在內層電子軌道上留下一個空穴,處于高能態的外層電子跳回低能態的空穴,將過剩的能量以X射線的形式放出,所產生的X射線即為代表各元素特征的X射線熒光譜線。其能量等于原子內殼
X射線熒光光譜法的重要作用
隨著大功率 X射線管和同步輻射源的應用、各種高分辨率X射線分光計的出現、計算機在數據處理方面的廣泛應用,以及固體物理和量子化學理論計算方法的進步,通過X射線光譜的精細結構(包括譜線的位移、寬度和形狀的變化等)來研究物質中原子的種類及基的本質、氧化數、配位數、化合價、離子電荷、電負性和化學鍵等,已
波長色散x射線熒光光譜法的簡介
波長色散x射線熒光光譜法wavelength-}isl3ersi}c Y-rayIluoreacenc} sperrrnmeuy X射線照射試樣激發產生各種波長的光,通過晶體衍射進行空間色散,分別測量不同波長的x射線分析線峰值強度,進行定性和定量分析的方法。適用于原子序數4(鈹)以上所有化學元素
X射線熒光光譜法XRF樣品的要求
1.粉末樣品需提供3-5g,樣品要200目以下,完全烘干; 2.輕合金(鋁鎂合金)厚度不低于5mm,其他合金不小于1mm,其他材料厚度需滿足3-5mm; 3.檢測單元表面盡量平整,且尺寸為4-4.5cm。
X射線熒光光譜儀的優點介紹
?X射線熒光光譜儀具有重現性好,測量速度快,靈敏度高的特點。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象,適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。?X射線熒光光譜儀的優點:?1) 分析速度快。測定用時與
X射線熒光光譜儀的優點介紹
X射線熒光光譜儀具有重現性好,測量速度快,靈敏度高的特點。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象,適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。?X射線熒光光譜儀的優點:?1) 分析速度快。測定用時與測
X射線熒光(XRF):理解特征X射線
什么是XRF? X射線熒光定義:由高能X射線或伽馬射線轟擊激發材料所發出次級(或熒光)X射線。這種現象廣泛應用于元素分析。 XRF如何工作? 當高能光子(X射線或伽馬射線)被原子吸收,內層電子被激發出來,變成“光電子”,形成空穴,原子處于激發態。外層電子向內層躍遷,發射出能量等于兩級能
X-射線熒光光譜法的應用領域介紹
X 射線熒光光譜法可用于冶金、地質、化工、機械、石油、建材等工業部門,以及物理、化學、生物、地學、環境科學、考古學等。還可用于測定涂層和金屬薄膜的厚度和組成以及動態分析等。 在常規分析和某些特殊分析方面,包括工業上的開環單機控制和閉環聯機控制,本法均能發揮重大作用。分析范圍包括原子序數Z≥3(
X射線熒光光譜法在醫藥分析中的應用
藥品安全與國計民生息息相關,各種化學和儀器分析方法在解決藥品研發和質量控制中發揮著重要作用。ICH指導委員會于2009年10月批準了Q3D金屬雜質課題。這一新指導原則建議對于藥品中的金屬雜質進行定性和定量限制。藥品中的元素雜質可能有多個來源:可以在合成中有意添加,或可能作為污染物存在(例如,通過與生
分析多道x射線熒光光譜儀的產品優點
多道x射線熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD)和能量色散型(ED)。波長色散型是由色散元件將不同能量的特征X射線衍射到不同的角度上,探測器需移動到相應的位置上來探測某一能量的射線。而能量色散型,去掉了色散系統,是由探測器本身的能量分辨本領來分辨探測到的X射線的。波長色散型能量分辨本領高,而