橢偏儀通過有效介質模型分析表面的粗糙程度，一般設計空氣含量50%，上層薄膜含量50%為粗糙層；材料的孔隙率分析與之類似，材料的折射率受到孔隙的“稀釋”，因此孔隙的比率，與實際材料的折射率/無孔隙材料折射率的比值相關。
2. 橢偏儀測帶隙寬度，是否應該先測出光學常數。與uv--vis吸收有什么區別？橢偏儀分析材料帶隙需要先測出光學常數。與UV-VIS分光光度計類似，后者測試的是alpha吸收系數，與消光系數有如下關系：alpha=4pk/l
3. 橢偏能對這種具有一定流動性的乳化膜厚度進行評估？橢偏可以對液體或固體薄膜進行測試，但乳化膜是否透明半透明，以及起伏狀態如何將會決定是否能夠用橢偏測試
4. 在雙層膜的情況下，進行變溫測試是否有可能得出尚未清楚的雙層擴散的具體情況。是否和所謂的分辨率有關系，因為兩層膜都是有機膜，n,k值比較接近
橢偏讀取的是界面的偏振光改變，雙層擴散過程涉及到的內部變化比較復雜，可能形成兩種成分混合的界面層，此時橢偏儀可通過建立模型分析各層厚度；另一種可能，擴散層與雙層折射率非常接近，沒有清晰界面，此時橢偏儀可讀出橢偏角發生改變，但難以通過建立模型分析各層厚度。
橢偏可用于液晶等光軸大分子的取向檢測，與檢偏工作原理類似，橢偏儀兩臂水平，液晶薄膜豎直放置于兩臂中間，轉動液晶薄膜樣品，當信號最弱時，液晶方向與橢偏儀起偏器方向相反，信號最強時，二者方向一致。
