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  • 發布時間:2019-10-14 18:27 原文鏈接: 子發射光譜(ICP/AES)理論知識(9)——攝譜法

    用攝譜法進行光譜分析時,必須有一些觀測設備。常用的設備有:將攝得的譜片進行放大投影在屏上以便觀察的光譜投影儀(或稱映譜儀),測量譜線黑度時用的測微光度計(黑度計),以及測量譜線間距的比長儀等。

    一、 光譜投影儀

    在進行光譜定性分析及觀察譜片時需用此設備。一般放大倍數為20倍左右。下圖是WTY型光譜投影儀的光路圖。

    光源1(12V50W鎢絲燈)的光線,經球面反射鏡2反射,通過聚光鏡3及隔熱玻璃11,再經反射鏡10將光線轉折550,由聚光鏡組3’射向被分析的光譜底板4,使光譜底板上直徑為 15 mm的面積得到均勻的照明。投影物鏡組6使被均勻照明的光譜線,經過棱鏡7,再由平面反射鏡9反射,最后投影于白色投影屏12上。投影物鏡組6中的透鏡5能上下移動,使此儀器的放大倍數可在19.75~20.25的范圍內進行調整。8為調節透鏡,可轉至光路中,以作調節照明強度之用。


    二、 測微光度計

    又稱黑度計。用來測量感光板上所記錄的譜線黑度,主要用于光譜定量分析。

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