X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得zui多也zui廣泛。大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。
X熒光光譜儀的性能特點：
1、專業的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
2、電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。
3、內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。
4、抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析。
5、針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
6、任意多個可選擇的分析和識別模型。
7、相互獨立的基體效應校正模型。
8、多變量非線性回歸程序。
9、智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。